帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2007年09月19日 星期三

瀏覽人次:【5726】

測試、量測和監控儀器廠商Tektronix,宣佈推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀,可供進行PCI Express(PCIe)1.0與2.0設計的測試與驗證。全新的Tektronix串列分析儀產品,獨家提供了詳細的PCIe 2.0通訊協定資訊,以及跨匯流排的分析。這些擴充了產業最完整的PCIe測試解決方案,讓新一代高速運算平台的發展得以進行。

串列分析儀
串列分析儀

除了串列分析儀外,Tektronix也推出全新的P6716/P6708中途匯流排探棒,及預先推出的插槽內插式探棒,以進行PCIe 2.0所有層級的測試與驗證。插入Tektronix TLA7000系列邏輯分析儀的此一全新分析儀,新增了進行通用訊號除錯並建立關聯的功能,以及其他包括記憶體與電腦處理器的系統互連。

PCIe 2.0連結可動態變更寬度(通道數目)。例如,8通道連結(x8)可變更為需要電源較少的4通道(x4),並在系統需要時變回x8。PCIe 2.0規格也可讓連結速度動態變更為介於2.5 Gb/s到5 Gb/s間,同時支援PCIe 1.0與2.0標準。此外,在未使用時,連結可短期間內進入閒置電源狀態。要驗證這些連結能在寬度與速度變更時,以及在電源管理狀態間來回轉換時正常運作,是相當重要的。全新的Tektronix串列分析儀,可獨特地驗證與除錯這些連結過程的運作。

隨著電子系統日漸複雜,設計中的並列與高速串列匯流排整合也越來越常見。在許多情況下,無法只檢視 PCIe匯流排,就進行系統層問題除錯。一個例子就是PCIe連結發出記憶體讀取要求給處理器。接著會輪到處理器發出記憶體讀取要求給DDR記憶體。如果DDR記憶體讀取錯誤的記憶體位址,將會把不正確的資料傳回PCIe連結,並導致不正確的系統動作。Tektronix TLA7000邏輯分析儀能夠用單一測試平台,建立PCIe、處理器與記憶體之間時間關聯互動的工具。

關鍵字: Tektronix(太克通用設備 
相關產品
太克4系列B混合訊號示波器 提供更快分析和資料傳輸速度
Tektronix推出增強型KickStart Battery Simulator應用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4邊限測試儀 簡化並加速PCIe測試
Tektronix PCI 6.0接收器測試解決方案 滿足下一代高效能需求
Tektronix推出2系列混合訊號示波器 再度提升效能和可攜性
  相關新聞
» R&S在CCW 2024展示測試方案 協助成功過渡至任務關鍵寬頻通訊
» 是德科技成功驗證符合窄頻非地面網路標準的新測試案例
» UL健康建築驗證標誌全台首發 由南山人壽拔頭籌
» Durr和R&S合作開展ADAS/AD功能測試 適用於終檢和定期技術檢驗
» R&S SMB100B微波信號產生器 可用於類比信號產生
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.118.19.162
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw