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致茂PXI測試模組於美國SEMICON West正式發表
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2009年07月14日 星期二

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身為PXI聯盟執行成員(Executive Member)的致茂電子,近日宣佈已成功研發出PXI平台的半導體邏輯訊號測試模組,現已提供100MHz可程式數位訊號測試模組(Model 36010),以及PXI介面的四象限DUT電源供應模組(Model 36020)。

PXI系統是為一個開放性的工業平台,目前PXI的系統已廣泛且成功地應用於汽車測試、半導體測試、功能性測試、航空設備測試以及軍事的應用之上。相較於現有的半導體測試業界的測試設備,PXI測試系統具備高效能與低成本優勢,成為量測儀器產業新星。

Model 36010模組由一支援眾多循序控制指令的測試向量控制卡(Sequence Pattern Generator),以及邏輯腳位訊號卡(Logic Pin Electronics Card)所組成,用以發出待測品所需的電性訊號,並接受待測品因此訊號後所回應的電性訊號而作出產品電性測試結果的判斷。

每一邏輯腳位訊號卡有8個I/O通道,且採用Per-pin架構設計,每一I/O通道均配備有32M的測試向量記憶體(Vector Memory)、32組的時序設定、32組的波型(Waveform)設定以及參數量測所需的PMU功能。另外,該模組也具備擴充功能,每一張測試向量控制卡最多可支援8張邏輯腳位訊號卡,以提供最多64個I/O通道,並可同時測試8個DUT。在功能與效能的表現上,與現有大型的IC測試機台相當,能提供快速且準確的測試,而其價格卻是只要傳統設備1/3左右的價格。

Model 36020模組可提供待測IC穩定且精準的電壓源,每組36020模組具備4個channels,每一個channel可提供16-bit精度的電壓源,以及18-bit精度的電流量測功能,並擁有±250mA~±5uA等6個電流檔位設定,特別適用於IC測試所需的高精度電流量測。

致茂電子於7月14~16日在美國SEMICON West 2009展會中,將展示全系列的半導體測試解決方案及Solar測試解決方案,包含有SoC測試系統、自動化系統功能測試機、可程式數位訊號測試模組、四象限DUT電源供應模組…等。致茂希望透過此次的展示,讓客戶以及潛在客戶親身體驗最新的產品與技術,並成功的推動半導體產品於產業的應用。

關鍵字: 致茂 
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