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奥宝科技发表Metrology-on-AOI 解决方案
专为平面显示器制造业研发

【CTIMES/SmartAuto 陳麗潔报导】   2006年11月02日 星期四

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奥宝科技宣布推出专为平面显示器制造业设计的新一代 Metrology-on-AOI 解决方案,是业界首次将高准确性的计量学运用在与自动光学检测(AOI)相同的系统上。

将一部分的计量学原理运用CD/OL测量是每一个 TFT-LCD 制造厂确保精准的面板尺寸所必备的技术 。同样地,对于每一层级内各种不同制程阶段中,自动光学检测(AOI)更是不可或缺。因此,一个结合这些功能系统将可降低在线所需设备的数量,有效节省设备的资金支出、无尘室的空间以及维护成本,同时,也可增进营运绩效与质量管控。

奥宝科技研发的 Metrology-on-AOI 概念,消除了传统用在CD/OL测量上耗时与低效率的打样方法。于是,不需等候从生产在线转移到脱机计量系统就可取得玻璃面板样本。而现在这些量测方法可以在每次生产在线,利用 AOI 系统检测每一个玻璃面板有无制造瑕疵时一并完成。因此,用户可立即获得包括处理鉴定制程偏差的数据分析,以及当任何明确的途径或在线来源的尺寸超过范围发出实时警示。

奥宝科技亚太区显示器部门业务副总 Eitan Oppenhaim 表示:「我们导入此一新观念并运用在一些大型液晶电视制造设备,将计量技术与 AOI 结合于单一系统内已获得客户广大的回响,客户可以比以往更为快速建置生产线并减少成本。而建置速度对于 LCD 面板制造业者而言就像节省营运管销一样重要。」「我们很高兴再次推出另一个突破性良率管理方案,可为制造业者提供显著而立即的制造优势,使他们可以在这高度竞争的市场上获利。」

關鍵字: 奥宝科技  Eitan Oppenhaim  EDA  一般性工具软体 
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