NI國家儀器推出無線測試系統(WTS),一款可大幅降低大量無線製造測試成本的解決方案。儘管無線測試的複雜度與日俱增,有了這款具有最佳量測速度與平行測試功能的系統,企業即可有效降低測試成本,將生產效率提升好幾倍。
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全新PXI架構的無線測試系統(WTS)完成了速度優化,將生產效率提升好幾倍。 |
「物聯網(IoT)等大趨勢將驅動更多的設備納入RF和感測器功能,以往這類設備的測試成本非常昂貴,但是測試成本不應該限制工程師創新或產品的經濟可行性」,Frost & Sullivan 的量測和儀器專案經理 Olga Shapiro 表示:「為了維持未來的獲利能力,企業必須重新思考自身的無線測試方法,採用新的模式。 由於 WTS 採用業界肯定的 PXI 平台,還有 NI 的市場專業做為堅強後盾,我們預期這個系統將對物聯網產生重大影響。」
WTS結合了最新的PXI硬體,針對多種標準、多種DUT和多種連接埠測試需求提供了單一平台。如果再搭配靈活的測試序列軟體一起使用,例如TestStand Wireless Test Module,即可在平行測試多個裝置時,大幅提升儀器的使用效率。WTS 具有立即可用的測試序列,適合搭載Qualcomm與Broadcom晶片組的裝置,此外還配備整合式DUT與遠端自動化控制功能,可輕鬆整合至生產線。這樣一來,客戶即可大幅提升RF測試設備的效率,進一步降低測試成本。
「我們使用NI無線測試系統,即可透過同個設備測試多種無線技術,包括藍牙、WIFI、GPS 和無線行動技術」,HARMAN/Becker 汽車系統公司的Markus Krauss表示:「WTS和NOFFZ的RF測試工程專業幫助我們大幅縮短了測試時間,加快測試系統的啟用速度。」
WTS是NI採用PXI硬體、LabVIEW和TestStand軟體開發而成的最新系統 (了解 2014 年推出的半導體測試系統)。 WTS可支援LTE Advanced、802.11ac和藍牙LE等無線標準,適用於WLAN存取點、行動裝置、資訊娛樂系統,以及其他納入行動、無線通訊與導航標準的多標準裝置製造測試作業。 WTS搭載軟體設計的 PXI 向量訊號收發器技術,可針對製造測試環境提供優異的 RF 效能,而且這個平台還能夠隨著千變萬化的 RF 測試需求而擴充。(編輯部陳復霞整理)