Tektronix推出Keithley S540功率半導體測試系統

Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半導體測試系統，這是為高達3kV的功率半導體裝置和結構提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導體材料 （包括碳化矽 （SiC） 和氮化鎵 （GaN）） 搭配使用而進行最佳化處理，可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試。

圖一 : 專為最新的功率半導體裝置所提供的全自動高速晶圓級參數測試解決方案，包括高達3 kV的SiC和GaN。

隨著對功率半導體裝置的需求不斷提高，同時，SiC和GaN也日益商業化，製造商正在生產製程中採用晶圓級測試，以有效提升良率並改善盈利能力。針對這些應用，S540顯著地縮短了測試時間和測試設定時間，並減少了佔用空間，同時實現了實驗室級高電壓量測效能，進而降低了擁有成本。

Tektronix的Keithley產品系列總經理Mike Flaherty表示：「許多晶圓廠正使用自訂的混合測試系統來執行功率半導體測試，在從低電壓測試轉向高電壓測試時，需手動變更測試設定。正如您所預期，這會增加製程步驟並拖慢生產速度。相較之下，S540是一款完全整合的解決方案，特別適合必須迅速測試各種裝置的生產環境。」
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