愛德萬測試VOICE 2017開發者大會論文徵稿開跑

由半導體測試設備供應商愛德萬測試（Advantest）主辦的2017年度VOICE開發者大會，即日起向國際徵集半導體測試解決方案、最佳應用與創新技術相關論文發表。本次大會亦將依循往例，於兩個地點盛大展開，5月16至17日於美國加州棕櫚泉（Palm Springs）印第安維爾斯凱悅Spa 度假酒店（Hyatt Regency Indian Wells Resort & Spa）揭開序幕，5月26日則移師成長前景可期的中國市場，於上海錦江湯臣洲際大酒店(InterContinental Shanghai Pudong)登場，兩場會議皆以「洞悉連網世界與其中奧秘」（Measure the Connected World and Everything in It）為主軸。

圖一 : 半導體測試年度大會即將於美國和中國登場，技術發表、互動資訊站、拓展人脈的良機為三大重點。

VOICE開發者大會即將於2017年邁入第二個十年，愛德萬測試將持續提供與會者精進知識與廣建人脈的平台，包括聚焦於八條技術路線的技術發表會、合作夥伴的展示會以及社交活動。此外，本次大會上的VOICE技術資訊站展示，將針對愛德萬測試V93000與T2000系統單晶片（SoC）測試平台、記憶體測試機台、分類機、測試機解決方案、產品工程和測試技術的使用者，進一步加入更多互動討論的議程。

在每一年的VOICE大會上，來自全球整合元件製造商（IDM）、晶圓廠、IC設計公司和封測代工（OSAT）供應商及業者的半導體測試專家齊聚一堂，互相交流資訊與想法。
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