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邁入70週年愛德萬測試Facing the future together!
 

【CTIMES/SmartAuto Angelia 報導】   2024年01月15日 星期一

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愛德萬測試Advantest Corporation日前發布年度預測時,以「次世代高速ATE卡」、「HA1200晶粒級分類機與M487x ATC 2kW解決方案」、「記憶體測試產品線」等最新自動化測試與量測設備產品,全面符合今年最熱門產業之各類半導體設計和生產流程,包括5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車,以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在內之高效能運算 (HPC) 等。

2024年半導體產業預估第二季谷底反彈
2024年半導體產業預估第二季谷底反彈

隨著擁有百萬兆級高資料傳輸率的應用飛速崛起,業界對ATE卡新訊號處理功能的需求也愈來愈迫切,高度整合之I/O (HSIO)「Pin Scale Multilevel Serial」卡擴充V93000 EXA Scale 平台功能滿足高速介面需求! HA1200配備愛德萬測試經HPC驗證的ATC技術,能以100%的測試覆蓋率測試功能強大的高效能SoC,有助改善最終測試階段良率下降問題,進而減少最終多晶粒組裝產品的損失。M487x系列ATC 2kW解決方案專為AI/HPC IC封裝最終測試而設計。ATC 2kW解決方案具備超高速接面溫度 (Tj) 感測及回應科技,支援高效能IC設定溫度測試, 記憶體測試三大生力軍產品瞄準NAND Flash和非揮發性記憶體 (NVM) 元件而設計,這類元件往往承受須壓低測試成本及測試區的總持有成本 (COO) 的龐大壓力。新產品包括T5230記憶體晶圓測試解決方案;針對T5851記憶體測試機之STM32G第三代protocol NAND系統級測試模組;以及T5835高速晶圓測試介面選擇。

更多資訊請上:www.advantest.com/

關鍵字: 高速ATE卡  記憶體測試  SoC測試  愛德萬測試 
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