Mentor Graphics（明导公司）推出全新Calibre xACT寄生电路参数抽取平台，该平台可满足包括 14 nm FinFET在内广泛的模拟和数字电路参数抽取需求，同时最大限度地减少 IC 设计工程师的猜测和设置功夫。 Calibre xACT平台可藉由自动优化电路参数抽取技术，针对客户特定的制程节点、产品应用、设计尺寸大小及电路参数抽取目标，实现精准度和周转时间 (TAT) 的最佳组合。 采用 Calibre xACT 平台进行电路寄生参数抽取在满足最严格的精准度要求的同时，还让客户体验到了减少高达10倍的周转时间。

全新Calibre xACT寄生电路参数抽取平台可满足先进制程广泛的寄生电路参数抽取需求

三星（Samsung）在用于 14 nm 技术的 Calibre xACT 平台的开发和认证方面与 Mentor Graphics 有着广泛的合作，并凭借该平台的高精准度性能将其应用于技术开发。 Calibre xACT 产品能够将单个规则档案应用于一系列电路参数抽取应用，使客户能够兼顾精准度和快速TAT(Turn Around Time)，且无需手动修改其规则档案或工具配置。

「我们在对电路参数抽取产品进行了仔细的基准检验后，选择了将Calibre xACT作为签核电路参数抽取工具标准并应用到我们所有的新一代设计中，」Cypress Semiconductor 公司 CAD 总监 Dragomir Nikolic 说道。 「包括在 90 nm和 65 nm制程节点上的产品。 我们发现，在众多目标在最尖端制程节点电路参数抽取产品中，Calibre xACT可提供高精准度和快速周转时间的最佳组合。此外，我们也看到 Calibre xACT电路参数抽取工具有能力在各种各样的应用（从晶体管级别到全芯片数字电路参数提取）中产生最佳结果，这种能力是非常的有价值。 」

在整个设计周期内，电路设计工程师必须在性能和精准度之间权衡取舍。寄生电路参数抽取也不例外。在使用较为复杂的FinFET 元件的先进制程节点上，设计工程师致力于追求更为严苛的精准度，也需要更高的性能和容量来实现十亿级电晶体设计。事实上，在现代IC 中，所有制程节点都随着记忆体、类比电路、标准元件以及客制化数位内容的混合变得日益复杂。这种复杂性为电路参数抽取工具带来了一系列不同的挑战。为了应对这些挑战，Calibre xACT平台将精简模型、解电磁场技术（Field Solver）以及高效的多CPU扩展（scaling）技术融为一体，以确保实现有可靠精准度并满足计划所要求的期限。

Calibre xACT电路参数抽取平台与整个 Calibre产品线整合，实现了无缝验证流程，其中包括用于完整晶体管级模型的 Calibre nmLVS 产品，以及用于针对极高精准度电路参数抽取应用的 Calibre xACT 3D 产品。 此外，它还纳入了第三方设计环境和格式，以确保与现有的设计和仿真流程相兼容。 （编辑部陈复霞整理）