先進積體電路設計的廠商，新思科技(SYNOPSYS)發表一套立即可取得的完整記憶體智財（IP），包含有記憶體模型、記憶體控制器與記憶體內建自我測試元件．此一DesignWare智財資料庫中記憶體的解決方案，藉由單一授權協定與價格，提供給予設計工程師，並不需要支付使用費與專利權費用．

新思科技表示，DesignWare智財資料庫提供一套專為能夠與任何設計完美運作整合而設計的記憶體智財．此項能夠運用預先設計、經過驗證的智財區塊的專門技能，乃是使設計工程師們大幅縮短創造與驗證記憶體分支系統所需時間的關鍵．經過製程驗證的DesignWare記憶體解決方案，確保設計工程師們能夠達成最高效能表現，與輕易地整合可運用的智財．

「我們成功地運用DesignWare記憶體控制器達成一百五十MHz的系統操作頻率，並將之順利地整合到我們的設計環境當中，」Woodside網路公司的設計工程師，Subbu Muddappa表示．「這項完整的驗證解決方案，其中包含了SDRAM與Flash記憶體模擬模組的新思科技DesignWare，允許我們快速與有效地驗證整體無線區域網路的解決方案．」

DesignWare記憶體控制器乃是為動態與靜態記憶體所設計，它是完全參數化而且可邏輯合成的記憶體控制器．單一記憶體控制器能夠支援多樣的記憶體型式，例如，DDR-SDRAM、SDR-SDRAM、Mobile-SDRAM、Micron SyncFlash、SSRAM、 SRAM、Flash與ROM裝置．記憶體控制器藉由與AMBA AHB 2.0相容的界面與系統連結，也可以藉由一個簡易的轉換界面與其它匯流排相連接．

DesignWare智財資料庫中經過驗證的記憶體模擬模組數目正持續不斷地增加當中，目前已經有超過一千個模組，涵蓋了超過二十五個記憶體供應商所提供的記憶體裝置．模擬模組藉由於業界已經認定是標準的SWIFT界面與模擬器相互整合，所有新思科技的模擬器與其它主要模擬器供應商都支援這種界面．

DesignWare的記憶體內建自我測試元件，是為SRAM與ROM記憶體架構所設計的一種完全參數化、可邏輯合成的解決方案．DesignWare的記憶體內建自我測試解決方案，可以藉由內建的演算測試確保內嵌式記憶體的錯誤偵測覆蓋，以提高整體產品的品質．為了降低測試時間與達到內嵌測試資源的使用極限，測試可以藉由共享的內建自我測試控制器進行平行運作．有四種業界標準的SRAM BIST演算方式可加以運用，並且能夠在執行的過程中進行選擇：March LR、March C-、MAT++與利用間歇投遞機制的保留測試．

“我們已經不斷地從我們的客戶那邊得知，取得個別的記憶體智財元件將成為過高的成本開銷，”新思科技的DesignWare市場行銷部主任，Ed Bard表示．“新思科技DesignWare智財資料庫提供設計工程師們以單一價格，便能夠立即使用一系列完整的記憶體目錄．目前已經使用DesignWare智財資料庫的數千位設計工程師，已能夠輕易地從DesignWare記憶體中心的網站，藉由下載的方式獲得最新供應的記憶體智財．”