帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI發表USB規格的X系列多功能DAQ
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2010年10月24日 星期日

瀏覽人次:【3787】

NI發表NI X系列的USB規格多功能資料擷取(DAQ)介面卡。USB X系列介面卡,即以單一的隨插即用介面卡,整合高效能的類比量測/控制通道、數位I/O,與計數器/計時器,讓工程師可用於多樣的可攜式量測與資料記錄應用。USB X系列DAQ介面卡可具備最多32個類比輸入、4個類比輸出、48個數位I/O通道,與4組計數器。此8款新介面卡囊括500 kS/s的多工AI,到各通道2 MS/s的同步取樣AI。

NI LabVIEW圖形化程式設計功能,可讓工程師針對USB X系列DAQ,以直覺的圖示與接線組成流程圖,輕鬆開發完整的客制化測試應用。LabVIEW 2010可透過NI DAQ Assistant中的資料管理串流新技術,簡化資料記錄與分析作業,並可將波形圖的資料匯出至Microsoft Excel或NI DIAdem,以利後續處理。與其他NI DAQ介面卡相同,USB X系列DAQ亦使用相同的多執行緒NI-DAQmx驅動程式。若先前應用亦搭配X系列,則可輕鬆匯入LabVIEW或文字架構的程式碼而重複利用。

所有USB、PCI Express,與PXI Express規格的X系列DAQ,其核心均為NI-STC3時序與同步化技術,整合類比、數位,與計數器子系統的時序/觸發功能。NI-STC3技術可為X系列介面卡提供獨立的時序引擎,用於內建的類比與數位I/O子系統,讓工程師可依不同速率獨立執行類比與數位I/O,亦可透過同步化功能將之整合。X系列介面卡具備4組強化的32位元計數器,適用於頻率、脈寬調變(PWM),與編碼器作業;而新的100 MHz時基(Timebase)可達前款介面卡的5倍解析度,以產生類比與數位取樣率。

USB X系列DAQ亦內建NI Signal Streaming,可使用訊息架構(Message-based)的傳輸方式,並於裝置端執行智慧運算,透過USB達到高速的雙向資料傳輸作業,並可同時執行類比、數位,與計數器作業。目前有2款介面卡可透過此項技術進行同步取樣,且8個類比輸入通道均可分別達到1.25 MS/s與2 MS/s取樣率。這些介面卡亦內建32或64 MS記憶體,確保USB高流量時亦可進行穩定的擷取作業。由於所有通道均可達高取樣率,因此極適用於可攜式超音波測試,與暫態記錄應用。

關鍵字: NI  測試系統與研發工具 
相關產品
簡化5G PA驗證 MaxLinear與NI整合射頻演算法與IC測試軟體
NI 發表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、靈活且適用於網路的功能
NI推出滿足5G NR研究與系統原型製作的全新mmWave Radio Head
NI擴充RFIC測試功能以因應NB-IoT與eMTC標準
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空口參考測試方案
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BMBTUUZ0STACUK4
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw