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KLA-Tencor延伸WPI技術優勢至所有類型光罩
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2008年10月20日 星期一

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KLA-Tencor推出最新「晶圓平面光罩檢測 (Wafer Plane Inspection,WPI)」技術中,晶粒至資料庫 (die-to-database) 的版本。WPI 技術可讓頂尖的邏輯及晶圓廠光罩製造商,在檢測光罩缺陷的過程中,同時評估這些缺陷是否可能印刷到晶圓上。在非重複區域的單晶粒光罩和多晶粒光罩上,WPI是第一個能實現此功能的技術。

KLA-Tencor光罩及光掩模檢測部總工程師暨總經理Zain Saidin表示:WPI 新的 die-to-database 功能可為許多應用帶來助益。由於高階繪圖晶片和高階可編程元件的晶片較大,所以通常都傾向由單晶粒光罩來製造。為了提升效率,晶圓廠經常將多家客戶、不同的晶片放在同一個光罩上。而光罩製造商為了加速開發周期,也常把多個版本的晶粒放置在單一光罩上。這樣的作法,導致某些缺陷在每個晶粒的相同位置重複出現。Die-to-die 和cell-to-cel的模式在這樣的狀況中無法發揮功用。但是WPI卻能提供die-to-database的效用,不僅止於具有重複結構的缺陷,且能在所有的光罩上檢測出可印刷缺陷。

KLA-Tencor的TeraScan光罩檢測系統,讓WPI不僅可以計算光如何照射在晶圓上的光阻表面 (Aerial-plane image,虛像平面影像),還能計算光阻會如何反映光線 (wafer-plane image,晶圓平面影像)。晶圓平面影像能更精準地預測出,哪些缺陷可能會印刷到晶圓上。

關鍵字: 晶圓平面光罩檢測  KLA-Tencr  半導體製造與測試 
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