帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI發表新款PXI數位儀器與高頻寬機箱
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2009年07月28日 星期二

瀏覽人次:【3743】

NI近日發表2組新款的32個通道PXI Express架構數位儀器,還有新款8槽式高頻寬PXI Express 3U機箱,可用於高階的自動化測試應用。

NI PXIe-6544/45為可選擇電壓的數位波形產生器/分析器,分別可支援最高100與200 MHz的時脈,以簡化測試應用。NI PXIe-6545具備常見的660 MB/s串流速率,為業界目前最高串流速度的數位測試產品之一。針對需要於主機記憶體快速傳輸大量資料的高速半導體裝置,與高解析度(High-definition,HD)的多媒體元件,此新款數位儀器可讓測試工程師輕鬆進行完整的分析作業。

NI PXIe-1082機箱為業界首款3U規格的8槽式PXI Express機箱,具備7組PXI Express週邊插槽,可容納產生器/分析器以達到各插槽最高1 GB/s頻寬,與最高4 GB/s系統總頻寬。

NI測試行銷副總Eric Starkloff表示,這些新儀器拓展了NI的PXI數位測試功能,且其所提供的效能與彈性,適於測試更高速的半導體晶片與多媒體裝置。這些PXI Express產品將取代傳統的週邊解決方案,以開放且現成的PXI儀控標準為架構,提供更高成本效益的進階解決方案。

關鍵字: PXI Express  PXI數位測試  NI  Eric Starkloff 
相關產品
簡化5G PA驗證 MaxLinear與NI整合射頻演算法與IC測試軟體
NI 發表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、靈活且適用於網路的功能
NI推出滿足5G NR研究與系統原型製作的全新mmWave Radio Head
NI擴充RFIC測試功能以因應NB-IoT與eMTC標準
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空口參考測試方案
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.138.124.83
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw