帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix USB3.0測試方案 促使相容裝置更快上市
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2010年01月20日 星期三

瀏覽人次:【7214】

Tektronix今(20)日宣佈,該公司的SuperSpeed USB解決方案,支援NEC Electronics USB 3.0相容主機控制器的訊號品質驗證作業,這是獲得USB設計論壇(USB Implementers Forum)認證的USB 3.0產品。

NEC Electronics與Tektronix通力合作,共同驗證該公司的新式矽元件,以符合新興SuperSpeed USB標準(USB3.0)的需求。USB技術已經迅速成為公認的用於連接電腦和周邊設備的業界標準,與其他一些最先進的高速介面(如PCI Express 2.0和SATA Gen 3)比較,SuperSpeed USB 3.0的資料速率高達5Gbps,其效能足以應付更複雜的量測挑戰。

Tektronix表示,若要解決這些挑戰,必須使用性能和彈性具佳的儀器,以及能提供速度及簡化設計工作、量測步驟與分析的工具,Tektronix USB 3.0測試解決方案能提供工程師像NEC Electronics工程師一樣的能力,除了為他們的USB裝置進行特性分析、除錯和相容性測試外,還可自動進行邊際量測和相容性測試。Tektronix AWG7122B任意波形產生器可針對關鍵的USB 3.0接收器邊際測試,提供訊號產生彈性,協助USB 3.0相容產品更快上市。

Tektronix SuperSpeed USB相容性解決方案是以儀器為基礎所建置(即時取樣示波器、任意波形產生器等等),能提供滿足高速串列協議所需的量測效能。例如DSA71254B即時示波器,提供一個高頻寬、低雜訊的環境,以準確擷取並分析快速串列訊號時脈率。AWG7122B任意波形產生器同樣也提供包含應力的複雜波形,可模擬傳輸路徑的遞減效果,以支援接收器測試。這些硬體工具搭配專業軟體應用,如DPOJET抖動與眼圖分析工具、SerialXpress先進抖動產生工具,以及TekExpress USB 3.0自動化相容性測試軟體,以提供設計人員所需的設計驗證和除錯工具。

關鍵字: USB3.0  Tektronix(太克NEC 
相關產品
Tektronix全新遠端程序呼叫式解決方案從測試儀器迅速傳輸資料
太克4系列B混合訊號示波器 提供更快分析和資料傳輸速度
Tektronix推出增強型KickStart Battery Simulator應用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4邊限測試儀 簡化並加速PCIe測試
Tektronix PCI 6.0接收器測試解決方案 滿足下一代高效能需求
  相關新聞
» Rohde & Schwarz 行動通訊測試高峰會聚焦無線通訊最新發展 – 現已提供線上回放
» Rohde & Schwarz 與 ETS-Lindgren 合作提供下一代無線技術的 OTA 測試解決方案
» 筑波醫電攜手新光醫院於台灣醫療科技展展示成果
» Tektronix電源儀表新突破 協助客戶在日益電氣化的世界快速創新
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.22.217.176
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw