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典故		 電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。
光纖被動元件之極化相依損耗量測 (2003.07.05)
目前有兩種普遍採用的方法可以量測PDL：極化掃描法Polarization Scanning Technique以及四態法（four-state method通常也稱為Mueller法）。如果需要量測多個波長的PDL，Mueller法比較快

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