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科技
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只有互助合作才能雙贏——從USB2.0沿革談起

USB的沿革歷史充滿曲折,其中各大廠商從本位主義的相互對抗,到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作,能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省?
光纖被動元件之極化相依損耗量測 (2003.07.05)
目前有兩種普遍採用的方法可以量測PDL:極化掃描法Polarization Scanning Technique以及四態法(four-state method通常也稱為Mueller法)。如果需要量測多個波長的PDL,Mueller法比較快

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