帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
宜特SMT元件製程能力一舉躍進至0.30mm微腳距
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2011年07月12日 星期二

瀏覽人次:【2576】

宜特科技(IST)於日前宣佈,已替客戶完成0.30mm微腳距的IC元件表面黏著封裝工作,微零件製程能力的實際應用在短時間內由0.40mm及0.33mm,一舉躍進至具有製程能力指標性意義的fine pitch 0.30mm。

宜特表示,此項成果代表宜特已可提供一個可以符合先進IC封裝技術之板階可靠度驗證環境,讓實驗結果不受SMT品質影響,精確發現IC元件產品壽命、失效因素與品質效能。

宜特科技工程處副總經理崔革文表示,每次零件尺寸的變更,帶給生產線是全新的製程挑戰。Fine pitch 0.30mm零件封裝的SMT先進製程與,其它pitch最大的差異與困難點在於,製程上許多材料及治具皆需有不同的考慮條件,舉凡錫膏特性、印刷條件設定(如脫模間距、脫模時間、印刷速度)、置件精準度、鋼板選擇等,每項都是SMT製程成功與否的重要關鍵因素。而SMT製程品質也將直接影響到焊接品質與焊點壽命。

關鍵字: 宜特 
相關產品
宜特推出環境模擬器測試 解決智慧家庭通訊標準混用
宜特台灣拓展車電模組驗證 建造「溫濕度複合式振動」可靠度測試環境
宜特推AE聲發射檢測,即早偵測高頻PCB焊盤坑裂
iST建高階TEM,聘權威-鮑忠興博士,材料分析能量大躍升
宜特獲美國能源局授權為Lighting Facts合格實驗室
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 宜特再獲USB-IF授權 全面領航USB4、PD 測試
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.13.59.106.251
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw