美商國家儀器（NI）發表首款PXI電源量測單位（SMU），與高密度的PXI切換器。這些產品可提升精確DC應用中的PXI平台效能，如半導體參數測試，與電子裝置的檢驗作業。與傳統儀器相較，工程師可搭配使用這些低價位的小型模組，於高針腳數裝置中進行電壓與電流參數的精確特性記述（characterize）作業。

PXI SMU

NI PXI-4130具有單一的隔離SMU通道，包含4象限的±20 V輸出，並整合遠端（4線式）感測。此通道可於象限I與III源極（Source）最高40W，並於象限II與IV汲極（Sink）最高10W。PXI-4130 Power SMU具有額外的電源供應通道，適用於電壓/電源供應與回讀（Readback）功能，並可於單一PXI模組上整合SMU與電源供應。透過5組電流範圍所提供最低1 nA的量測解析度，PXI-4130 Power SMU為精確的儀器組合，適用於需要電壓/電流程式化源極與掃瞄作業的測試與設計檢驗應用。

NI PXI-2535與PXI-2536超高密度模組具有544個交點–亦為單一3U PXI插槽的最高矩陣密度。PXI-2535設定為4x136的單線式矩陣，而NI PXI-2536設定為8x68的單線式矩陣。切換器模組是以場效電晶體（FET）技術為基礎，其所具有的新優點包含極長的機器使用壽命、無限的同步連結功能，與最高每秒50,000個交點的切換速度。這些功能讓切換器成為高本益比的解決方案，可於檢驗並測試如半導體晶片的量產裝置時，傳輸低功率的DC訊號。新的切換器並可搭配使用NI切換執行（Switch Executive）的切換管理軟體，以進行簡單設定並再使用相關程式碼。

SMU與高密度切換器可構成多種PXI儀器，並用於半導體裝置的檢驗作業，包含高速數位裝置、混合訊號儀器，與RF設備。當整合至PXI系統時，這些儀器可同時針對架構性與功能性的半導體檢驗作業，以建立高彈性的解決方案，並適用於一般的電子元件特性記述（Characterization）作業。這些產品亦可搭配NI TestStand測試管理軟體、NI LabVIEW圖形化開發環境、NI SignalExpress、NI LabWindows/CVI，與NI Measurement Studio。