Tektronix發表全新TekExpress相容性測試自動化平台系統，以及全新TekExpress SATA自動化相容性測試軟體。在TekExpress平台系統上執行的TekExpress SATA，運用經過核可的Tektronix串列資料效能儀器套件，使必要的接收器、發射器和相互連接的SATA Gen-1和SATA Gen-2相容性測試達100%自動化。TekExpress相容性自動化平台系統，已發展成自動化的高速串列資料標準單鍵測試。TekExpress平台系統建立在國家儀器公司的TestStand之上，以此作為序列控制的引擎。

從Windows XP PC進行控制的TekExpress SATA，能有效率地執行由SATA-IO工作小組認證之實作方法(MOI)所要求的153 SATA Gen-2測試。TekExpress SATA軟體可編排儀器設定和控制序列，在不到3小時的總測試時間內，為SATA-IO核准的所有四個MOI提供完整的認證測試結果。這代表相容性測試時間減少大約70%，節省設計者在SATA設計驗證週期中耗費的寶貴時間。

第二代串列資料匯流排架構，包括SATA Gen-2，提供了比僅僅數年前大一個數量級的資料傳輸率。資料速率不斷加速，讓設計工作的挑戰性更大，並增加會影響上市時間、提高開發成本的設計複雜度。因此，設計師需要能夠展現更強大效能、更廣泛分析，以及更佳測試效率的強大測試設備和軟體。Tektronix新型TekExpress SATA自動化相容性測試套件，可提供無人操控的SATA Gen-1和SATA Gen-2相容性測試，有助客戶簡化測試作業，並協助他們更快讓新產品上市。

TekExpress SATA相容性測試所需要的設備，是高頻寬即時示波器(DSA70000 系列數位串列分析儀)、高速串列訊號產生器(AWG7102任意波形產生器)，以及高頻寬的取樣示波器(DSA8200系列數位串列分析儀)。Tektronix DSA示波器和AWG訊號產生器，提供測試所有世代的SATA裝置所需的效能，包括規劃中設定在6 Gb/sec下運作的SATA Gen-3規格。這些新一代的儀器和應用軟體解決方案，構成全新的完備高速串列資料測試平台。

NI TestStand乃專為簡化系統測試與驗證自動化而設計，立即可執行的測試管理環境。TestStand結合TekExpress，可用於開發、管理和執行SATA Gen-2相容性測試以外的額外測試序列。