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SuperC_Touch
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來自: 台北县
文章: 178

發 表 於: 2011.05.11 02:53:15 PM
文章主題: Cypress 的 TrueTouch 觸控技術

       Cypress 在 US 2011/0018829 號專利申請案, 有提出其互電容的觸控技術,相信就是TrueTouch所使用的方法,電路圖如下由電路看來,用的方法也是電荷移轉,與Atmel的方法相似度頗高。


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SuperC_Touch
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來自: 台北县
文章: 178

發 表 於: 2011.05.13 09:09:18 AM
文章主題: Re: Cypress 的 TrueTouch 觸控技術
   上圖的工作原理說明,SW1 與 SW3 連動,SW2 與 SW4 連動,當SW1與SW3 On時,Sw2與SW4是Off狀態,SW1與SW3 Off 時,SW2與SW4 為On,圖上應該少標示了一個開關用來短路CINT(590)作為初始化使用,首先短路CINT與 GND,Sw2與SW4 On,Cp1與Cp2,CM,CINT都為零。
 
(一) Sw1與Sw3 On,VDD對 CM,(Cp1+CINT) 充電,由於CM遠小於(Cp1+CINT),所以CM上的電壓遠大於CINT。
(二) SW2與SW4 On,Cp2電壓歸零,ABuf將CINT的電壓對CM充電,由於CINT上的電壓較低,所CM上的電壓也不高。
(三) 重複(一)與(二)的動作,CINT的電壓會越充越高。
 
接下的測量方法有兩種
(一)    重複固定次數,用 ADC讀取CINT上的電壓值。
(二)    使用Counter,當CINT的電壓到達某一預設值時停止計數,由Counter的數值作為讀取值。
 
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SuperC_Touch
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文章: 178

發 表 於: 2011.05.14 06:23:44 AM
文章主題: Re: Cypress 的 TrueTouch 觸控技術

         由上述的理論可以發現,CINT上的電壓在 CMCp1Cp2不變之下(未接觸或接觸後進入穩態),每次充放電所移轉的電荷會越來越大,如果以第二種方法來做數值的讀取會因為量化的緣故,發生較大的誤差,但雜訊卻會因為量化的結果而被進位或去尾反而變小,所謂的量化是指當電壓比較到時Counter停止計數,可是一個週期的充放電卻還沒結束,也就是讀取的數值不確定,舉例來說,如果充電的迴路沒有電阻,可以假設充電於週期的開始就充電完成,CINT上的電壓不會等於比較電壓,不論大於比較電壓多或少,讀取的Counter的值都一樣,如果有電阻就形成RC充電其為非線性的結果,但Counter的數值參考性就較高,但充放電的週期要大於RC時間常數的數倍,否則誤差就會變大,依我的判斷Cypress 用的是有電阻的結構,而且是用這電阻作為讀取精細度的調整,例如使用觸控筆需要較細微的變化數值時,就用較大的電阻值較慢的充放電週期,使用手指時用較小的電阻值較快得週期,以上純屬個人推理,如果有熟知TrueTouch 技術的高手,歡迎給予指正。

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