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安立知：220 GHz向量網路分析儀讓高頻晶圓測試一步到位 (2021.06.21)
晶圓測試都是在晶圓上透過自動化探針台自動去尋找晶圓上的目標，自動點擊以進行量測，因此除了高頻率的VNA之外，對探針與探針台的要求也非常高。晶圓測試大廠安立知（Anritsu）推出了新款VNA，可以一路從70KHz掃頻到200GHz，克服傳統操作必須分頻段架設儀器來滿足測量200G特性的問題 |
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5G服務加緊腳步 毫米波頻段競賽越演越烈 (2020.05.21)
隨著5G登場，全世界都將關注並觀察未來毫米波技術的應用方式。 |
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安立知推出向量網路分析儀 實現70kHz至220GHz量測 (2020.02.06)
安立知(Anritsu)推出 VectorStar ME7838G寬頻向量網絡分析儀(VNA)–首款能夠在單次掃描實現70kHz至220GHz量測的VNA。其可提供前所未有的頻率覆蓋範圍，能讓工程師在更廣泛的頻率範圍內更精準及有效地分析設備特性，進而提供準確的設備模型，實現精準模擬優化，縮短設計時間 |
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安立知推出寬頻率覆蓋範圍4埠寬頻向量網路分析儀系統 (2015.05.27)
安立知（Anritsu）推出VectorStar ME7838A4 4埠寬頻向量網路分析儀（VNA）系統，其具備從 70 kHz至110/125 GHz之全球最寬差動寬頻掃描範圍，並使用最小的毫米波（mmWave）模組對差動元件進行特性描述時提供高度穩定性和快速量測 |
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旺矽科技攜手R&S建置高精度晶圓研發測試解決方案 (2015.05.08)
旺矽科技（MPI）攜手羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz,R&S）建置高精度晶圓研發測試解決方案，其中包含了 MPI晶圓探針台系統與QAlibria校正軟體，提供射頻與毫米波元件及積體電路（IC）研發人員從校正（calibration）、模擬（modelling）、設計、驗證到除錯等完整的晶圓研發測試解決方案；進一步確保半導體元件的品質與可靠度 |
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是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件，以便降低量測配置的複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台 |
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安捷倫與Cascade Microtech聯手協助工程師簡化射頻測試 (2014.07.07)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣佈與Cascade Microtech建立策略聯盟，雙方將共同提供經過完整配置與驗證的晶圓級射頻量測解決方案，以協助工程師加速進行晶圓級半導體量測 |
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KEITHLEY推出高成本效益的元件測試方案 (2008.12.17)
美商吉時利儀器（Keithley）日前發表ACS Basic Edition，以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件（ACS）陣容 |
