相關物件共 2 筆
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用於檢測裸矽圓晶片上少量金屬污染物的互補性測量技術 (2021.12.30)
本文的研究目的是交流解決裸矽圓晶片上金屬污染問題的經驗，介紹如何使用互補性測量方法檢測裸矽圓晶片上的少量金屬污染物並找出問題根源， |
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英飛凌與歐尼爾合作開發「可穿式電子產品」 (2004.02.12)
英飛凌科技與運動品牌廠商歐洲歐尼爾公司〈O’Neill Europe 〉12日宣佈一項兩家公司所聯手的產品開發計畫結果：首件「可穿式電子產品」。英飛凌依據歐尼爾的規格，已經開發出一種適用於滑雪夾克整合的的晶片模組 |
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