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Tektronix宣布增強RF干擾搜尋器功能 (2007.05.10)
全球測試、量測與監控儀器廠商Tektronix，宣布該公司已為其RF干擾搜尋器，增強在工具應用程式上的能力，成功涵蓋了無線電頻率(RF)的標準功能，使載波網路在品質與覆蓋率上的量測更具競爭力 |
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R&S展現與台灣及全球共構WiMAX產業實力 (2007.05.09)
國際性專業量測設備製造廠商ROHDE & SCHWARZ(R&S)配合政府積極推動M-Taiwan計劃，5/14-5/15為期兩天的2007亞太地區產業高峰論壇-WiMAX產業趨勢與服務商機論壇暨展覽會，將以WiMAX為主軸，匯集亞太地區14國WiMAX政府主管、電信業主、專家共同與會 |
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Tektronix推出最新版Spectra2測試解決方案 (2007.05.08)
全球測試、量測與監控儀器廠商Tektronix，發表最新版功能強大且具高擴充性的Spectra2測試解決方案。此5.2修訂版，大幅增強了Spectra2的各項功能，可提供網路業者和設備製造商一個完整的診斷測試解決方案，以開發適用於VoIP、IP多媒體子系統(IMS)、或是複合網路的各種平台和服務，因應日益複雜的通訊環境 |
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Silicon Image選用安捷倫HDMI 1.3測試解決方案 (2007.05.07)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）在消費者電子協會（Consumer Electronics Association）互通性測試大會（plugfest）中宣佈，全球高解析度內容傳輸、播放與儲存技術廠商Silicon Image Inc.c旗下的授權測試中心（ATC）已選用該公司的HDMI 1.3相容性測試解決方案 |
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明導推出支援34K核心家族的協同驗證工具 (2007.05.02)
明導國際（Mentor Graphics）發表MIPS32 34K家族處理器核心專屬的全新處理器支援套裝（PSP）。與美普思科技（MIPS Technologies）聯合開發，這個全新C-based PSP支援交易層（TLM）與登錄轉移層（RTL）模擬，讓工程師們擁有一致的平台，可在上面檢視、驗證和共同確認34K處理器上發生的多重執行緒的硬體/軟體互動 |
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Agilent發表最新的光波元件分析儀 (2007.05.02)
安捷倫科技日前所展示旗下最新的光波元件分析儀（LCA），乃業界第一款可測試目標波長為850 nm的元件之測試儀器。Agilent N4376B LCA為關鍵光元件優化的頻率響應特性描述確立了新基準 |
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Agilent發表首款完整光接收器應力測試解決方案 (2007.05.02)
安捷倫科技發表一款完整的光接收器應力測試解決方案。Agilent N4917A光接收器應力測試機組，能提供可靠的符合性與特性描述測試結果。通訊及儲存產業的設計與測試工程師如今可就12.5 Gb/s的光接收副組件和收發器模組之標準符合性，進行準確的特性描述與驗證 |
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Tektronix推出全新MTS400系列MPEG測試系統 (2007.05.02)
全球測試、量測與監控儀器廠商Tektronix，宣布推出全新特色和功能的MTS400系列MPEG測試系統，包括增強的IPTV、VoIP及DTV開發與部署支援。新增的強化跨層級分析功能，可在廣播系統的多點，進行深入的壓縮視訊分析，而MTS400的增強功能，將讓新一代視訊網路和服務的開發與部署，獲得極大的進展 |
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掌握趨勢 讓競爭者永遠追隨 (2007.04.30)
陳湘俊認為，市場對於新技術的追求從不間斷，也因此持續開發新技術，讓競爭者永遠追隨，則是永續生存的不二法門。而創新研發的動力，必須來自穩定的技術根基。因此從最基礎的人才培育、趨勢掌握與技術研發環環相扣，缺一不可 |
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全球行動數位電視測試標準 R&S掌握市場先機 (2007.04.30)
2008年世界奧運在北京，這場定位為「數位奧運」的運動會，將以數位電視訊號向全世界轉播，亞洲地區的數位電視及行動數位電視市場，可望引爆成長熱潮。深耕廣播電視市場已久的羅德史瓦茲（R&S），體認到數位電視市場在中國大陸是一個新的商機，因此，有意進入中國大陸市場的台灣製造商，R&S也已經開始提供解決方案 |
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明導ADMS混合訊號驗證平台使客戶獲重大成就 (2007.04.26)
明導國際(Mentor Graphics)近期發表兩項運用ADVance MS(ADMS)混合訊號驗證平台的重大客戶成就。ADMS是可延展的平台，專為混合訊號功能驗證而精心設計。這個平台整合全套模擬工具Eldo、Eldo RF與ADiT以供電晶體層模擬，還有Questa以供邏輯層模擬 |
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Tektronix推出新一代的畫質分析工具 (2007.04.26)
全球測試、量測與監控儀器廠商Tektronix，宣布推出PQA500畫質分析儀，這是新一代的畫質分析(PQA)工具。該儀器納入了8項新的Tektronix專利，並包含最完備的人類視覺模型，可針對畫質分析提供最完整的量測與診斷工具套件，包括高畫質(HD)格式的全面性支援 |
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華爾萊科技發表全新vSure品質管理系統 (2007.04.26)
專為電子業提供強化生產力解決方案的廠商華爾萊科技公司（原名“華萊科技”）（Valor Computerized Systems Ltd.），推出全新品質管理系統 -vSure。vSure為ATE、AOI及 AXI等工作站提供自動化界面，也提供人工檢測站資料收集以及工廠所有作業單位或機械設備WIP追蹤的工具 |
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SolderStar推出APS自動化爐溫曲線測量系統 (2007.04.26)
SolderStar公司於2007年4月24至27日在上海舉行的Nepcon China 2007展會上，推出全新爐溫曲線測量設備SolderStar APS(自動化爐溫曲線測量系統)，利用最新迴焊資料記錄器的智慧內嵌功能，提供直通式爐溫測量功能和即時製程監測解決方案，可在單一硬體平臺上為每塊電路板提供溫度曲線 |
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SolderStar微型資料記錄器 Nepcon China 2007登場 (2007.04.25)
SolderStar公司於2007年4月24至27日在上海舉行的Nepcon China 2007展會上(攤位編號為2G05)，展出全新的微型資料記錄器Neptune SL USB，全面增強其爐溫曲線測量工具的性能和功能，包括SolderStar PRO和WaveShuttle Pro |
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R&S新掌上型頻譜分析儀 具備18GHz量測範圍 (2007.04.25)
在操作高達18GHz的頻率範圍儀器當中，R&S推出最輕巧的頻譜分析儀－R&S FSH18。由過去自3GHz到18GHz機型的持續研發，R&S FSH系列已穩固地在手持式量測設備市場上佔有一席之地 |
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Keithley新脈衝測試軟硬體量測 半導體實驗室專用 (2007.04.24)
美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments, Inc.），繼榮獲多項大獎的Model 4200-SCS半導體特性量測系統之後，再推出比Model 4200-SCS更先進的脈衝測試軟硬體量測產品。這套半導體實驗室專用的量測系統，結合DC與脈衝測量功能，搭配全方位應用程式工具組，是完整解決方案的最佳選擇 |
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R&S將向量網路分析儀與頻譜分析儀合而為一 (2007.04.24)
羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz, R&S)再度合併兩個商業範疇核心領域，新推出的R&S ZVL網路分析儀，除了是目前市場上最輕且最小的網路分析儀外，該儀器還能依使用者需求擴充頻譜分析儀功能，加上其自9KHz到3GHz或6GHz寬廣的頻率範圍，123 dB大動態範圍與雙向雙埠量測架構等特色，R&S ZVL重新改寫了網路分析刻板的應用特色 |
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安捷倫科技推出4080系列新款參數測試平台 (2007.04.24)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）發表專為解決半導體製造與研究環境工程人員之評估需求而設計的新一代參數測試平台。Agilent 4080系列以前所未見的效能，涵蓋完整範圍之量測需求 - 從主流製程到45奈米以上的先進製程 |
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NI將於5月8日舉辦第四屆線上自動化測試高峰會 (2007.04.23)
美商國家儀器(National Instruments,NI)將於五月八日在網際網路上舉辦第四屆自動化測試高峰會(Automated Test Summit 2007)，此次技術研討會，將著重在未來的趨勢探討，以及超越自動化測試的新挑戰 |
