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愛德萬測試瞄準NAND Flash/NVM市場 推出記憶體測試產品生力軍
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2023年12月19日 星期二

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愛德萬測試 (Advantest Corporation)宣布旗下記憶體測試產品線再添三大生力軍。新產品瞄準NAND Flash和非揮發性記憶體 (NVM) 元件而設計,這類元件往往承受須壓低測試成本及測試區的總持有成本 (COO) 的龐大壓力。新產品包括T5230記憶體晶圓測試解決方案;針對T5851記憶體測試機之STM32G第三代protocol NAND系統級測試模組;以及T5835高速晶圓測試介面選擇。

T5835多功能記憶體測試機
T5835多功能記憶體測試機

針對NAND/NVM元件的T5230 記憶體測試系統,採用合併陣列架構以達到包括晶圓級預燒 (WLBI) 和內建自我測試 (BIST) 之晶圓測試中,最優異的測試成本 (COT) 表現。

T5851-STM32G模組專門針對最新一代協定的NAND元件而設計,包括UFS4.0和PCIe Gen 5 BGA 封裝元件,用於最高達32Gbps之高速系統級NAND 測試。

T5835多功能記憶體測試機為高速晶圓測試介面的新選項,能以4,096個全I/O通道進行高速NAND Flash/NVM晶圓針測 (最高達5.4Gbps)。

關鍵字: 晶圓製造  先進製程  愛德萬測試  Advantest Corporation 
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