帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬測試推出inteXcell系列高效測試系統 瞄準先進記憶體IC測試
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2022年12月06日 星期二

瀏覽人次:【2502】

愛德萬測試 (Advantest Corporation) 發表inteXcell新款測試機產品線,主打精簡占地面積又能滿足嚴格的後段測試需求,因應未來記憶體元件日益增加的位元密度、低功耗與更快的介面速度。此新款最終測試系統設備,結合了針對高產能需求而優化的T5835記憶體測試機,是專為未來的記憶體解決方案而設計。有了inteXcell生力軍加入,ICs所有的測試流程 ,從初期工程階段到最後量產階段, 都能在同一個測試平台上完成。

inteXcell是首款結合廣泛覆蓋率、高產能表現及具備高彈性系統架構的全面整合測試解決方案,同測單元可達到1,536個元件,且同時兼顧高速與高精準度。

最新測試系統也提供小型的結構設計,達到每台可執行384顆同測元件,卻只會占用傳統測試設備3分之1的樓地板面積。由於每個機台都具備獨立非同步測試優點,故inteXcell能因應需求部署彈性設定1到4台測試機,以實現高設備使用率、簡化機台維修工作。

關鍵字: SSD(Solid State Drive, 固態硬碟Flash  記憶體  DRAM  愛德萬測試 
相關新聞
盧超群:以科技提高生產力 明年半導體景氣謹慎樂觀並逐步成長
Rambus與美光延長專利授權協議 強化記憶體技術力
鎧俠發表全新記憶體技術OCTRAM 實現超低功率耗
宜鼎三大記憶體與儲存解決方案榮膺2025台灣精品獎, 助力AI加速與高效運算、兼具永續價值
美光高速率節能60TB SSD已通過客戶認證
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.136.18.38
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw