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NI整合式HIL模擬器可提升硬體迴路測試系統客制化功能
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部報導】   2016年08月26日 星期五

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NI國家儀器推出整合式 HIL 模擬器 採開放式模組化架構,在時間緊縮、測試需求不斷變化與人力減少的情況下,有助於汽車與航太嵌入式軟體的測試人員繼續維持品質。

全新硬體迴路 (HIL)模擬器能夠打造出開放式商用現成平台,不須犧牲所需彈性,便能降低開發與測試風險。
全新硬體迴路 (HIL)模擬器能夠打造出開放式商用現成平台,不須犧牲所需彈性,便能降低開發與測試風險。

由於NI系統採用開放式的現成軟硬體平台,因此能夠輕鬆整合相機影像處理、RF I/O 與傳統 HIL 元件至單一系統之中。這樣的調整功能不同於目前其他的方法,可讓工程師隨時滿足高階駕駛輔助系統、系統電氣化與高階感測器 (例如雷達) 等進階測試的需求。藉由NI推出的HIL模擬器,測試工程師便能選擇以開放式工業標準?架構的整合式測試系統,不再受限於封閉式、無法調整的測試系統,也不必重新打造整套系統。

「我們選用 NI HIL 測試系統,因?此系統採用開放式標準平台,有助於降低整體測試、長期維修與硬體持有成本。」Saab Aeronautics 的 Anders Tunstromer 如此表示:「此系統讓我們能依自身的確切需求客制化系統,並能在整合測試我們的獅鷲戰鬥機時,盡早發現、修復嵌入式軟體的缺陷。」

「由於需求不斷改變,同時又需要更完整的測試範圍,因此除了一般元件之外,大部分的 HIL 測試系統還必須提供數項客制化功能。」NI資料擷取與嵌入式系統行銷副理 Chad Chesney表示:「NI 標準化了這些測試系統的常見元件,以便我們的客戶與合作夥伴能夠專注在他們的專業領域,並確實提供最穩定、創新的控制系統。」

HIL模擬器是以 PXI 與 CompactRIO 開放式平台?架構的最新系統, 採用了 VeriStand Real-Time 測試設定與記錄軟體、LabVIEW 系統設計軟體,還有 NI 全新的 SLSC 硬體,適用於標準化訊號路由、切換器、負載與訊號處理。 NI HIL 系統透過 Real-Time 作業系統與 FPGA 技術,提供極致的客制化功能,並同時運用商用現成技術,降低長期維護成本。(編輯部陳復霞整理)

關鍵字: HIL模擬器  硬體迴路  測試系統  整合式  NI  國家儀器  測試系統與研發工具 
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