NI国家仪器推出无线测试系统（WTS），一款可大幅降低大量无线制造测试成本的解决方案。尽管无线测试的复杂度与日俱增，有了这款具有最佳量测速度与平行测试功能的系统，企业即可有效降低测试成本，将生产效率提升好几倍。

全新PXI架构的无线测试系统（WTS）完成了速度优化，将生产效率提升好几倍。

「物联网（IoT）等大趋势将驱动更多的设备纳入RF和感测器功能，以往这类设备的测试成本非常昂贵，但是测试成本不应该限制工程师创新或产品的经济可行性」，Frost & Sullivan 的量测和仪器专案经理Olga Shapiro 表示：「为了维持未来的获利能力，企业必须重新思考自身的无线测试方法，采用新的模式。 由于WTS 采用业界肯定的PXI 平台，还有NI 的市场专业做为坚强后盾，我们预期这个系统将对物联网产生重大影响。」

WTS结合了最新的PXI硬体，针对多种标准、多种DUT和多种连接埠测试需求提供了单一平台。如果再搭配灵活的测试序列软体一起使用，例如TestStand Wireless Test Module，即可在平行测试多个装置时，大幅提升仪器的使用效率。 WTS 具有立即可用的测试序列，适合搭载Qualcomm与Broadcom晶片组的装置，此外还配备整合式DUT与远端自动化控制功能，可轻松整合至生产线。这样一来，客户即可大幅提升RF测试设备的效率，进一步降低测试成本。

「我们使用NI无线测试系统，即可透过同个设备测试多种无线技术，包括蓝牙、WIFI、GPS 和无线行动技术」，HARMAN/Becker 汽车系统公司的Markus Krauss表示：「WTS和NOFFZ的RF测试工程专业帮助我们大幅缩短了测试时间，加快测试系统的启用速度。」

WTS是NI采用PXI硬体、LabVIEW和TestStand软体开发而成的最新系统（了解2014 年推出的半导体测试系统）。 WTS可支援LTE Advanced、802.11ac和蓝牙LE等无线标准，适用于WLAN存取点、行动装置、资讯娱乐系统，以及其他纳入行动、无线通讯与导航标准的多标准装置制造测试作业。 WTS搭载软体设计的PXI 向量讯号收发器技术，可针对制造测试环境提供优异的RF 效能，而且这个平台还能够随着千变万化的RF 测试需求而扩充。 （编辑部陈复霞整理）