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安捷倫與Hynix合推記憶體驗證的長線ZIF探針頭
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2009年02月10日 星期二

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安捷倫科技(Agilent)宣佈與Hynix半導體合作生產一款為DDR和GDDR SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線ZIF(zero insertion force;零插力)探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的信號時,能準確地量測高速信號。安捷倫表示,這些探針頭可搭配安捷倫的InfiniiMax和ZIF探量系統使用,能提供較佳的可用性和較低的焊接成本。

該探量選項可解決DDR設計的一個基本挑戰:它可以讓工程師探量DRAM晶片上難以觸及的位置,同時保持信號的完整性。隨著DDR和GDDR SDRAM元件的速度愈來愈快,以及設計邊限不斷地縮小,探量系統的效能顯得格外重要。長線ZIF探針頭,正足以克服該項探量挑戰。而DDR和GDDR驗證的另一項挑戰是,依據JEDEC規格所需測試的信號數。長線ZIF探針頭的設計,可讓工程師在SDRAM元件上所要探量的多個信號間輕易地切換。

關鍵字: DDR  GDDR SDRAM  探針頭  安捷倫(AgilentHynix(海力士
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