有鑑於半導體晶片設計愈趨複雜，不論是對於IC設計公司或封測廠，甚至是對開發測試系統的ATE供應商而言，都面臨前所未有的挑戰，同時在半導體測試及驗證方面近年來也有了重要的轉變，以期尋求一個更開放、高彈性、客製化、符合成本效益及提升效能的最佳解決方案。

美商國家儀器將首次舉辦「半導體測試與高峰論壇」(Semiconductor Test Summit, STS 2010)，此活動集合了國內外半導體領域知名廠商共襄盛舉，包含了Teradyne、Tektronics、ON Semiconductor、T2IS、致茂、思衛科技、Open ATE、凌陽、宗臣科技、凱茂科技、宏相科技等廠商，共同為半導體產業的驗證與測試提供精闢的解說與探討。