CTIMES - 搜尋：參數量測單元

愛德萬T2000測試平台推新通用型模組擴充數位與電源供應功能 (2020.12.14)
半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)日前發表兩款最新通用型硬體設備500MDM數位模組與DPS32A電源供應模組，擴充旗下T2000測試平台功能，涵蓋諸如系統單晶片 (SoC)元件、電源管理IC、車用元件和CMOS影像感測器等應用，以因應日益成長的數位轉型市場

愛德萬測試：5G與AI為測試設備帶來新一波商機 (2019.09.06)
在矽晶片的發展中，每到一個新的時期，就會有不同的市場驅動力。從1990年代的PC，2000年的手機，到2010年的智慧手機，約以十年為間隔，持續推動著半導體產業的矽晶片發展節奏

愛德萬推出電動車高功率類比IC測試新模組瞄準車用市場 (2017.12.04)
愛德萬測試 (Advantest Corporation)發布T2000 IPS系統兩款最新模組，可測試應用於電動車 (EV) 動力控制系統的高壓與高功率裝置。最新升級的MMXHE (多功能混合高壓Multifunction Mixed High Voltage) 與MFHPE (多功能浮動高功率Multifunction Floating High Power) 模組具備愛德萬測試創新多功能接腳設計

是德科技推出PXIe數位激發與響應模組專為射頻晶片組測試系統設計 (2015.02.12)
是德科技（Keysight）日前推出具備參數量測單元（PMU）與16個通道的PXIe高速數位激發/響應模組。Keysight M9195A PXIe模組具備快速靈活的射頻晶片組測試模擬與元件特性分析能力，讓測試工程師能夠更有效率地進行設計驗證與產品測試

ADI推出四通道參數量測單元(PMU) (2006.12.13)
美商亞德諾推出第一顆四通道PMU(參數量測單元)。採節省空間的12mm x 12mm TQFP封裝的AD5522結合四個單獨的通道。其中的每一個通道都包括內建的感測電阻，電流範圍分別是5微安、20微安、200微安以及2毫安