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R&S參與嵌入式世界2023 展示嵌入式系統測試解決方案 (2023.03.13)
無論是在消費電子、電信、工業、醫療、汽車還是航空航太領域,嵌入式系統都是當今電子設備的核心。無瑕疵的操作至關重要,工程師在設計越來越緊湊的嵌入式系統時面臨著複雜的挑戰,這些系統要滿足當今對效率、安全、可靠性和互通性的要求
R&S新款LCX與MFIA高性能阻抗測量產品組合問世 (2022.10.17)
Rohde & Schwarz推出的新款高性能通用LCR分析儀系列能夠覆蓋廣泛的應用領域。憑藉其支援的4 Hz至10 MHz頻率範圍,這款R&S LCX不僅適用於大多數傳統家用電源的50或60 Hz頻率以及航空飛行器400 Hz頻率的電源,還適用其它從低頻地震感測器到工作在幾兆赫的高功率通信電路的所有設備
新款R&S LCX增強了高性能阻抗測量產品組合 (2022.03.28)
R&S LCX系列的LCR分析儀能夠用於傳統的阻抗測量以及針對特定元件類型的專門測量,並提供研發所需的高精度以及生產測試和品質保證所需的高速度。 Rohde & Schwarz推出的新款高性能通用LCR分析儀系列能夠覆蓋廣泛的應用領域
CTIMES聯手安馳科技堅守智能醫療防線 線上課程第二堂衝出高人氣! (2020.06.08)
隨著行動醫療的逐漸普及,生命體徵監測的可靠性與多元性更加受到醫療產業重視。目前生命體徵監測(VSM)正廣泛應用於多樣化的市場,每種市場應用都有不同的挑戰和關鍵要求
益和6630精密阻抗分析儀 執行多樣化元件量測 (2016.11.10)
益和公司(Microtest)致力為量測產業的客戶提供最完整的量測設備解決方案,今年增加6630精密阻抗分析儀全新產品,讓益和的測量精準解決方案更趨完善,不僅在運用方面彈性化符合產業需求,更可執行多樣化的元件量測
益和推出柔性電路板元件特性測試機9340 (2016.05.11)
物聯網(IoT)裝置產品體積越小,柔性電路板(FPCB)微小的瑕疵需要更高精密的檢測儀器分析板材的元件特性,益和(MICROTEST)公司推出的柔性電路板元件特性測試機9340,可提供電路板製造商最高CP值的最佳設備
是德科技發表適用於先進設計系統的信號及電源完整性解決方案 (2016.01.29)
是德科技(Keysight)日前推出兩套電磁(EM)軟體解決方案,以協助工程師執行信號完整性(SI)和電源完整性(PI)分析,進而改善印刷電路板(PCB)設計的高速鏈路效能
是德科技新高達3GHz阻抗分析儀E4991B開始出貨 (2014.12.02)
是德科技(Keysight)日前宣佈旗下的Keysight E4991B阻抗分析儀開始對外出貨,以協助研發、品質保證及檢驗工程師,對各式各樣的被動電子元件、半導體元件、介電材料及磁性材料進行特性分析與評估
堅持品質與精度 英之科制霸電感測試市場 (2014.10.28)
英之科科技為英國Wayne Kerr Electronics集團在2007年7月設立於台灣的亞太區營運中心,也是本集團嘗試在海外直接銷售與服務的第一家分公司,主要銷售旗下Wayne Kerr以及Danbridge兩大品牌的產品
[調查]可穿戴技術帶動全新商機 (2012.08.21)
在今年的Google I/O中,Google發表了Google Glass智慧眼鏡技術,讓眾人眼睛一亮。事實上,這類的可穿戴技術(wearable technology)已發展多時,近來愈來愈受到重視。根據IMS Research的資料,2011年全球可穿戴技術市場約帶來價值20億美元的營收,約有1,400萬台可穿戴設備出貨,預計到2016年的銷售收入可望達到60億美元,出貨可望成長至1.71億台
德州儀器推出首款類比前端 可測量體重及身體組成成分 (2012.08.10)
德州儀器 (TI) 宣佈推出業界首款全面整合型類比前端,可進行體重及身體組成成分測量 (Body Composition Measurement; BCM) 。該 AFE4300 是一款簡單易用的高精度低功耗前端解決方案,可幫助工程師設計出整合身體組成成分測量儀、身體阻抗分析儀 (body impedance analyzer) 以及阻抗測量設備
安盟成立以安捷倫儀器為主軸之數位測試中心 (2012.06.19)
安盟科技(ATeam Scientific Ltd.)於2012年6月正式於新北市中和成立高速數位測試中心,針對USB 3.0、DDR、HDMI、10GBaseT、DisplayPort、SATA、PCI Express、MIPI與材料阻抗分析等最新通訊傳輸協定標準,提供一個精準量測驗證實務的平台,滿足大台北地區客戶在高速數位傳輸方案產品設計、驗證、生產、製造各方面之先期測試驗證需求
安捷倫新網路分析儀快速配置縮短時程及成本 (2011.06.15)
安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,推出ENA系列網路分析儀之快速配置。快速配置(express configuration)產品可以現貨供應的方式,快速提供測試與量測配置。安捷倫表示,這項服務保證可盡快將測試設備出貨給客戶的研發實驗室與生產線,而且立即可用,既省時、省力又省錢
安捷倫向量網路分析儀選項提供RF NA和ZA功能 (2011.01.13)
安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,推出了旗下ENA系列Agilent E5061B 5-Hz至3-GHz向量網路分析儀適用的兩款選項。新的RF NA(網路分析)和ZA(阻抗分析)選項,可提升分析儀的頻率範圍、速度、升級能力和多功能性
安捷倫推出全新18-GHz差動式TDR探棒套件 (2009.06.12)
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)發表一款可執行差動時域反射(TDR, Time-Domain Reflectometry)和時域轉態(TDT, Time-Domain Transition)量測的新探棒套件。從事信號完整性測試相關工作的工程師,在設計與驗證高速串列鏈路(high-speed serial links)和元件時,通常都必須執行TDR/TDT分析
英之科 (2008.03.18)
Wayne Kerr成立於1946年,在過去的60多年中,Wayne Kerr為電子量測儀器的領導廠商,特別是在元件測試方面(LCR Meter、Impedance精密阻抗分析儀、高頻量測儀器領域等)由於具有精密準確度、功能性及優良品質保證,受到世界各地客戶的青睞,Wayne Kerr不斷聆聽客戶的需求,提供客戶更佳的產品品質與良好的售後服務
量測儀器廠Wayne Kerr在台成立亞洲區總公司 (2007.10.01)
成立於1946年,致力於LCR元件量測儀器與精密阻抗分析儀的英國Wayne Kerr公司,為提升台灣及亞洲區客戶的使用需求與強化客戶服務滿意度,於95年8月正式在台正式成立Wayne Kerr亞洲區總公司-英之科科技股份有限公司
安捷倫四合一數位通訊分析儀--首創「One Button Solution」 (2004.01.05)
由於晶片及電腦匯流排間移動龐大資料的需求,使得硬體結構和軟體協定也須有所因應變化。隨著標準的資料速率由MHz提升到GHz,信號干擾的問題也從平行結構變成了串列結構,因此,因通道效應的關係,在信號抖動和振幅衰減上,亦將引起設計與測試工程師面臨新的挑戰
儀測科技 (2003.09.06)
一、突破、創新、以市場先驅自許: 以扮演市場之前驅角色自許,是儀測科技創立二十餘年來自我鞭策惕勵之目標。我們不遺餘力地研究開發、突破創新,以提供高品質、高科技儀器設備與專業性技術及售後服務,協助產業界提昇競爭能力為最高之經營指導方針
縮小ESR量測誤差之要點 (2003.05.05)
現今許多電容和電感都具有低ESR值的特性,在量測時需要特別注意修正許多誤差的來源。不同頻率可以使用不同的方法來量測ESR,低頻的量測可使用自動平衡電橋及共振的技術;而使用空腔(cavity)的共振技術、網路分析儀的反射測試器以及專門的阻抗量測設備採用的RF-IV技術,則適合用於高頻的量測


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