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高速數位訊號-跨域創新驅動力研討會 (2024.07.23)
隨著大數據、人工智慧，特別是生成式AI的快速發展，數據需求呈現爆炸式增長。高速數位訊號作為數據傳輸的重要載體，將承擔起更大的責任和挑戰。新興技術例如5G到6G通訊、車聯網、智能城市等，都需要高速數位訊號的支持 |
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R&S 推出示波器乙太網路一致性自動測試應用 (2014.04.08)
羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz) 延伸了 R&S RTO 示波器的應用領域，以全新的 R&S RTO-K22 及 R&S RTO-K23 乙太網路一致性測試模組，讓使用者可依標準執行 10/100/1000BASE-T 及 10GBASE-T 乙太網路介面的自動化測試，所有一致性測試皆符合 IEEE 及 ANSI 乙太網路測試規範 |
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Tektronix 提供適用於 MHL 2.1的先進分析和相容性測試解決方案 (2013.07.19)
全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出適用於最新行動高畫質連結 (MHL) 相容性測試規格 (CTS) 2.1 實體及通訊協定測試的業界唯一單機解決方案，包括同時適用於實體層 (PHY) 及通訊協定層的發射器 (Tx)、接收器 (Rx) 和硬體鎖測試 |
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安捷倫新版軟體支援即時抖動測試精確度 (2009.09.16)
安捷倫科技（Agilent）旗下獲獎無數的Agilent Infiniium 90000 系列高效能數位儲存示波器，以及Agilent Infiniium 9000 系列混合信號與數位儲存示波器，最近新增了多項強大功能，包含即時PRBS23抖動測試功能提昇量測準確度 |
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分析並除錯 DDR I、II和III時脈抖動問題 (2009.07.03)
本文將重點介紹示波器中提供的一些工具和方法，能協助工程師迅速分析時脈信號的抖動，以及偵測和找出抖動的問題。確保時脈信號的抖動效能夠好極為重要，才能保證DDR系統可以相容互通 |
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內建式抖動量測試技術（下） (2008.11.05)
隨著人們對於通訊網路以及檔案傳輸的需求與日俱增，高效能通訊系統儼然已成為現今最為重要的發展議題。但因通訊傳輸速率大幅提升，時脈抖動（jitter）對於系統將會造成嚴重的影響，所以不管任何相關產品皆必需通過抖動量驗證後才可進入量產 |
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內建式抖動量測試技術（中） (2008.10.07)
隨著人們對於通訊網路以及檔案傳輸的需求與日俱增，高效能通訊系統儼然已成為現今最為重要的發展議題。但因通訊傳輸速率大幅提升，時脈抖動（jitter）對於系統將會造成嚴重的影響，所以不管任何相關產品皆必需通過抖動量驗證後才可進入量產 |
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內建式抖動量測試技術（上） (2008.09.02)
隨著人們對於通訊網路以及檔案傳輸的需求與日俱增，高效能通訊系統儼然已成為現今最為重要的發展議題。但因通訊傳輸速率大幅提升，時脈抖動（jitter）對於系統將會造成嚴重的影響，所以不管任何相關產品皆必需通過抖動量驗證後才可進入量產 |
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量測數位視訊設備的實體層 (2006.03.01)
在設計高畫質數位基礎建設的初期，遵循良好的工程規範，便可以平順地轉換至高畫質系統，並可確保日後高資料速率數位訊號的傳輸品質。而選擇正確類型的纜線是確保安裝正確無誤的關鍵 |
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隨機雜訊對時脈抖動影響的理論與實驗 (2005.09.05)
寬頻雜訊、相位雜訊與寄生雜訊為時脈抖動的主要來源，時脈抖動（Timing Jitter）與雜訊可以說是工程應用上最不被了解的概念之一，但卻也是數位與類比設計中最關鍵參數的一環，本文主要是解釋並展示時脈抖動與這三個雜訊源的直接關聯性 |
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2004 ADMF安捷倫數位量測論壇紀實 (2004.11.04)
儘管受到8月底一場風災的影響而延後，原本亞洲區第一場的台灣ADMF安捷倫數位量測論壇被迫移至10月5日與7日舉行，但是依然有500多位業界的精英熱情參與；另一方面，包括安捷倫在內的七家廠商，則是就高速序列與嵌入式系統的設計與除錯，在各自最專長的技術領域，深入介紹與分享最前瞻的技術與最實用的解決方案 |
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解構抖動轉移曲線技術 (2004.04.05)
抖動轉移曲線（Jitter Transfer Function；JTF）為比較介面IC的主要技術。JTF為透過紀錄一包含鎖向迴路元件的資料集，為設計人員提供大量相異的抖動頻率之性能總括，本文將帶領讀者了解何為抖動轉移曲線，並深入解讀該技術之深層意義 |
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Tektronix光學通訊測試技術再獲美國專利 (2002.02.06)
太克科技(Tektronix)近日宣布其數位相位分析（Digital Phase Analysis，簡稱DPA）技術獲得美國的專利。這是一套創新的、領先業界的抖動分析法，可用於光學通訊網路的測試。當撥打電話時，抖動常會造成消費者無法撥通電話或不良的通話服務品質 |
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太克發表新型數位量測方法轉換光學抖動分析 (2002.02.05)
Tektronix(太克科技)近日發表突破性的光學抖動量測儀器，可以協助設備製造商加速用於核心量測網路的10 Gb/s SONET/SDH設備的設計與生產速度。新的Tektronix OTS9200 抖動分析模組，是全球首套全數位化光學抖動量測工具，內建於Tektronix專利數位相位分析（Digital Phase Analysis，簡稱DPA）技術上 |
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數位通信系統中的抖動jitter (2002.02.05)
在一般情形下，數位通信系統只傳送位元流而在接收端用clock and data recovery(CDR)電路重新產生位元時脈。位元時脈重新產生過程中的不完美，將導致時脈誤差(timing error)。這種時脈誤差被稱為時脈抖動(jitter) |
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安捷倫科技推出全新抖動測試解決方案 (2002.01.22)
安捷倫科技為負責測試2.5 Gb/s和10 Gb/s光學通訊產品的SONET/SDH規格認證之研發工程師，推出了兩種新的抖動解決方案。這些新的抖動量測與分析系統可為光學工程師提供優異的設計觀點，讓他們大幅改善產品的功能、降低生產成本及提高良率 |
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太克發表光學通訊測試科技 (2000.09.05)
太克科技(Tektronix)宣佈，該公司發表數位相位分析(Digital Phase Analysis, DPA)科技，該技術為電信網路抖動與同步測試科技。太克在使用OTS9000系列光學測試系統中引入DPA科技，可協助製造商和網路業者滿足及執行處理不停擴充的全球通訊基礎結構所需的每秒10Gigabit(Gb/s)測試需求 |
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太克推出攜帶式光學測試系統 (2000.07.14)
太克科技(Tektronix)宣佈，該公司所新推出的OTS9010光學測試系統，是OTS9000光學測試系統的攜帶式機型。OTS9010為安裝包商和網路業者提供了現場維護與測試10Gb/s(每秒10 gigabit)的最新高速光學網路所需的一切攜帶式測試功能，同時以單一系統支援多頻道，大幅縮短測試時間、降低製造與安裝部署成本和上市時程 |
