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iST建高階TEM,聘權威-鮑忠興博士,材料分析能量大躍升 (2014.05.12)
隨著半導體產業不斷尋求朝20/14奈米製程發展之際,電子驗證測試產業-iST宜特科技在材料分析不缺席。iST宜特今(5月12號)宣布除了佈建目前業界EDS元素分析能力最強的TEM設備:JEM-2800外,更和成大微奈米中心進行材料分析技術開發合作,同時聘請該中心副研究員、國內頂尖TEM權威-鮑忠興博士擔任顧問,設備與技術能量一次到位
宜特科技全新高階材料分析實驗室正式營運 (2010.06.22)
宜特科技於日前宣佈,預計於6月9日正式營運全新高階材料分析實驗室。由於奈米材料尺寸不斷微縮,且半導體產業朝高階製程發展的趨勢下,宜特將拓展高階材料分析機台設備,引進穿透式電子顯微鏡(TEM:JEOL JEM-2100F)與雙束型聚焦離子束(Dual Beam FIB:FEI Helios 600)
07年晶圓探針卡銷售額成長率降至6.8﹪ (2008.05.21)
外電消息報導,根據市場研究公司VLSI Research的研究報告顯示,由於全球半導體產業的衰退,造成2007年積體電路晶圓探針卡的銷售收入成長率降至6.8﹪,只有過去5年的一半


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