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凌華科技6/16舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」 (2016.06.06) 凌華科技將於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳,舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」,偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用,掌握工業物聯網與電子量測關鍵技術,全面破解降低測試成本與提高測試效能之道,以加速產品開發及專案時程 |
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能高電子推出四款PXI平台IC測試模組 (2010.01.31) 能高電子於今日(1/31)宣佈,將於二月推出更新版本之四款PXI平台IC測試模組。能高電子有鑑於今日IC不斷快速變化的環境中,苦於現有ATE銜接不上的窘境,該公司將產品規格、特性做一區隔,讓使用者可依照自身需求,自行選購並組裝適合之模組 |
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IC Tester DIY?能高推PXI半導體邏輯測試模組 (2009.09.15) 有鑒於IC發展日新月異,傳統量測設備已不敷使用,能高電子不斷投入開放式架構之自動測試儀器的研發工作,旗下的軟體平台有MTS2及GATE兩大系統,硬體包含PXI可程式化FPGA母板、PXI半導體測試模組以及測試向量控制卡三大部分 |
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