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NI以LabVIEW SignalExpress簡化量測 (2007.03.20)
美商國家儀器（National Instruments,NI）發表LabVIEW SignalExpress，擴充NI LabVIEW圖形化系統設計平台。LabVIEW SignalExpress是一套互動式量測軟體，簡化了資料記錄、儀器控制和學術教學 |
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奧寶科技新紫晶技術 可提昇PCB製造檢修能力 (2007.03.19)
奧寶科技宣佈公司最新研發出Amethyst Technology（紫晶技術），進一步有效提昇PCB製程中的檢測和修復能力。Amethyst Technology（紫晶技術）自即日起已全面運用於奧寶科技所有新世代的檢修站產品 |
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安捷倫J-BERT N4903A獲頒DesignVision獎 (2007.03.19)
安捷倫科技旗下J-BERT N4903A榮獲DesignVision Award 2007測試與量測類獎項，這款高效能序列BERT內建了符合標準之可調式時脈資料回復（CDR）。
國際工程協會（IEC）設立DesignVision獎，旨在表彰對半導體產業提供具影響力之創新及獨特的應用、產品、技術與服務之個人和廠商 |
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安捷倫與Beceem聯手開發行動WiMAX裝置 (2007.03.19)
安捷倫科技與Beceem Communications宣佈雙方已簽訂合約，決定共同開發採IEEE 802.16e-2005標準的行動WiMAX裝置適用之高速製造測試解決方案。
安捷倫首先會針對WiMAX技術，開發一個以MXA信號分析儀和MXG信號產生器，以及安捷倫測試程式和控制軟體為基礎的新測試系統 |
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安捷倫推出增強版VEE軟體 (2007.03.15)
安捷倫科技（Agilent）日前發表旗下VEE（Visual Engineering Environment；視覺化工程環境）軟體的增強版，此一功能強大、互動的開放式圖形化程式語言是專為提供快速又容易的量測分析而設計 |
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The MathWorks發佈MATLAB及Simulink更新版本 (2007.03.15)
The MathWorks於3月1日正式宣佈，MATLAB及Simulink產品家族最新更新版本-R2007a正式上市。此次改版為The MathWorks自2006年起實施每年兩次產品更新的標準時程。R2007a改版新增2個新產品、82個產品重大改版更新以及bug fix等等 |
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R&S CMU200具CDMA2000 1xEV-DO連線功能 (2007.03.14)
CDMA2000 1xEV-DO在全球行動通訊標準中佔有舉足輕重的地位；第一個使用此標準的通訊網路已在2006年下半年度進入商業營運，並使用增強型CDMA2000 1xEV-DO版本A改版。R&S CMU200利用新版的連線選項（signaling option）可涵蓋所有關於1xEV-DO進接終端設備的研發生產測試項目，為CMDA2000 1x與1xEV-DO兩者提供了多機一體的測試方案 |
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Tektronix RSA6100A獲EDN提名年度熱門產品 (2007.03.09)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix，宣布該公司的RSA6100A系列即時頻譜分析儀，已經由EDN提名成為「2006年百大熱門產品」之一。
數位RF的測試儀不僅需搭配較寬的頻寬，而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取，以及與時域、頻域和調變域完全關聯的功能 |
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Tektronix示波器獲EFY雜誌讀者票選最佳獎項 (2007.03.07)
測試、量測與監控儀器廠商Tektronix，宣佈Electronics For You(EFY)雜誌，已將Tektronix選為其2007年EFY讀者票選最佳獎項示波器類別中的得主。自2004年設立該獎項以來，Tektronix便以此為里程碑，並連續4年成為示波器類別獎項的唯一得主 |
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安捷倫發表首創整合式行動WiMAX測試儀 (2007.03.07)
安捷倫科技推出Agilent E6651A行動WiMAX測試儀，可協助設計公司及製造商加快IEEE 802.16e用戶端產品的上市時間。與Innowireless公司合作開發的這款突破性新產品是結合兩家公司在工程技術上的領先優勢，持續努力不懈所創造的第一個合作成果 |
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Tektronix新款AWG5000 可測試各項數位RF技術 (2007.03.06)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix，發表以最近推出的AWG7000系列相同平台為基礎建置的全新AWG5000系列任意波形產生器（AWG）。有了AWG5000，客戶就能產生高解析度訊號，以測試混合訊號裝置中的類比與數位基頻和中頻（IF）電路，達到提高測試效率、降低成本的目標 |
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Tektronix以新型IMS互通性測試套件現身IMS論壇 (2007.03.05)
通訊網路管理和診斷解決方案廠商Tektronix，宣佈IMS論壇（IMS Forum）在一月舉辦的第一屆IMS應用與服務插拔大會（Plugfest）中，以其新型IMS互通性測試套件，成功的評估廠商的IMS執行成果 |
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安捷倫與DECOMSYS推出信號時間相關量測系統 (2007.03.05)
安捷倫科技（Agilent）與DECOMSYS（Dependable Computer Systems GmbH）日前共同發表一款量測系統，其提供示波器所擁有最高階的FlexRay觸發與協定解碼量測。這款新的量測解決方案可協助使用嵌入式微處理器的汽車設計人員，驗證他們的FlexRay信號的完整性及時序觸發通訊匯流排的正確時序 |
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Tektronix增強3G路最佳化產品組合 (2007.03.03)
Tektronix宣布增強其3G網路最佳化的產品組合。這套全新的產品組合，配備獨一無二的軟體應用程式，可經由迅速的服務衰減辨識和問題的解決，降低收益損失。TrendNavigate技術 |
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FormFactor 推出Harmony XP 晶圓探針卡 (2007.03.01)
FormFactor推出Harmony XP 探針卡，擴增其Harmony系列全區域12吋晶圓探針卡產品陣容，先進的晶圓偵測解決方案支援高密度行動通訊、一般商品、以及繪圖產品專用DRAM元件，為每粒晶圓帶來最低整體測試成本 |
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Synova微水刀鐳射技術開放授權 (2007.03.01)
微水刀鐳射科技創始者和專利擁有者SYNOVA公司，今天發表一項新的策略經營模式，開放嚴選合作夥伴授權其專利微水刀鐳射技術（Laser MicroJet Technology）。在未來，除Synova將持續開發、銷售及提供其微水刀鐳射（Laser MicroJet）產品服務之外 |
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淺論邏輯分析儀評估要點 (2007.02.28)
:針對目前和未來的量測需求選用最合適的邏輯分析儀極為重要，但若要逐一比較不同製造商生產之邏輯分析儀的規格和功能特性，不但耗時又不容易看懂。本文列出的考量要點可以協助加快選擇的過程，同時避免掉入一些常見的陷阱中 |
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安捷倫與CWS合作提供完整可靠度測試解決方案 (2007.02.27)
安捷倫科技（Agilent）日前宣佈與專為半導體測試市場提供加速和長期可靠度測試解決方案及分析工具廠商Core Wafer Systems（CWS）達成一項協議。CWS的ASUR（Advanced Scaleable Unified Reliability；先進可擴充統一可靠度）解決方案套件獨家採用安捷倫的系統測試儀器，組成單器件可靠度（SDR）和多址平行器件可靠度（PDR）測試產品 |
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Tektronix AWG7000訊號產生器獲EDN提名 (2007.02.16)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix，宣佈該公司的AWG7000訊號產生器已獲提名為EDN「測試及量測類」的「年度創新產品獎」入圍名單。
AWG7000任意波形產生器，專為因應測試高速串列資料匯流排，以及寬頻數位RF裝置等需求而設計 |
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全球矽晶圓產值達百億美元 創近年新高 (2007.02.16)
國際半導體設備材料協會（SEMI）矽晶圓製造商分會（SMG）指出，去年全球矽晶圓出貨面積年增率高達20%，產值也首度達100億美元。
SMG指出，去年全球矽晶圓出貨與產值成長幅度驚人，主要因半導體記憶體12吋晶圓廠產能不斷開出 |
