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CTIMES / 測試與量測
科技
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攀上傳輸頂巔──介紹幾個數位顯示介面標準

當傳輸技術進入數位時代之後,使用者及廠商對於數位顯示的品質要求越來越注重,結合顯示卡硬體的數位顯示介面標準,其發展進度因而更受到矚目。
NI發表首款PXI SMU與高密度PXI切換器 (2008.02.12)
美商國家儀器(NI)發表首款PXI電源量測單位(SMU),與高密度的PXI切換器。這些產品可提升精確DC應用中的PXI平台效能,如半導體參數測試,與電子裝置的檢驗作業。與傳統儀器相較,工程師可搭配使用這些低價位的小型模組,於高針腳數裝置中進行電壓與電流參數的精確特性記述(characterize)作業
即時抖動與眼狀圖分析 (2008.02.02)
DPOJET是適用於即時示波器的首要眼狀圖、抖動與時序分析套件。在今日的高速串列、數位與通訊系統設計中,DPOJET利用其完備的抖動與眼狀圖分析及分解演算法,簡化了發現訊號完整性考量、抖動及其相關信號源問題
NFC標準、技術和應用三合一 (2008.01.31)
NFC並非是一種突然冒出的新技術,而是結合目前各種既有的標準與基礎建設,並配合新功能應用於手持裝置的整合介面。修訂升級NFC標準,便是以標準確立相關應用領域的過程
安捷倫與Altera聯手開發首款收發器模型程式庫 (2008.01.30)
安捷倫科技(Agilent)宣佈與Altera聯手開發,專為搭配安捷倫ADS先進設計系統EDA軟體使用的首款收發器模型程式庫已經正式上市;Altera是專門供應以收發器為基礎的場式可程式閘陣列(FPGA)廠商
賽靈思宣布全系列Virtex-5 SXT元件進入量產 (2008.01.25)
全球可編程邏輯解決方案廠商Xilinx(美商賽靈思)公司宣布針對數位訊號處理器(DSP)最佳化的Virtex5 SXT元件已開始量產供應,為Xilinx Xtreme DSP解決方案陣容之一部分,包含開發套件、設計軟體、IP、以及參考設計方案
安捷倫推出新光纖多埠功率錶提升製造速度 (2008.01.24)
安捷倫科技(Agilent)推出一款具有4或8個功率感應器通道的光纖功率錶,可為從事製造的客戶提供更快的製造速度與操作效率。這些光纖功率錶是專為分析光纖多埠元件的特性而設計,其為各裝置的連接、高速量測下資料的蒐集以及後續資料處理快速分析傳輸上,提供了解決方案
Anritsu推出經濟型微波頻譜分析儀強化版 (2008.01.24)
Anritsu Company再次強化其MS271xB系列,使經濟型微波頻譜分析儀可針對六項普遍的無線系統建置提供專屬的解調變硬體及預寫測試程序–包括Fixed/Mobile WiMAX、W-CDMA/HSDPA、cdmaO ne、CDMA2000、EVDO及GSM/GPRS/EDGE
安捷倫推可在極端溫度執行量測之探測解決方案 (2008.01.16)
安捷倫科技(Agilent)發表可在極端溫度的環境測試箱(environmental chamber)與其他設定下用於執行示波器量測的探測解決方案。 Agilent N5450A InfiniiMax極端溫度延伸接線可搭配InfiniiMax系列探測系統和Agilent Infiniium示波器使用,使工程師能夠在-55℃到150℃的溫度範圍內探測信號
嵌入式系統設計驗證與除錯技術研討會 (2008.01.14)
課程內容包含測試與量測的基本概念、淺談雜訊來源與信號完整性議題(設定、保持時間違規的量測…等) 、低速串列匯流排(CAN、I2C、SPI)簡介與嵌入式系統設計驗證與除錯測試實務
安捷倫DDR II 應用量測研習營--新竹場 (2008.01.14)
DDR II/III量測技術一直是記憶體製造商以及系統整合廠最令人頭痛的問題,從量測製具的設計、如何有效地利用探棒擷取信號,以及利用複雜的觸發功能進行讀寫信號的分離,都是研發工程師需要長期研究的課題
安捷倫DDR II 應用量測研習營-台北場 (2008.01.14)
DDR II/III量測技術一直是記憶體製造商以及系統整合廠最令人頭痛的問題,從量測製具的設計、如何有效地利用探棒擷取信號,以及利用複雜的觸發功能進行讀寫信號的分離,都是研發工程師需要長期研究的課題
RFID暨Zigbee技術介紹與測試概要 (2008.01.14)
無線射頻辨識技術(Radio Frequency Identification;RFID)應用於追蹤、統計、查核、辨識用的無線技術,如機場行李通關、公路電子收費等。一個小小的RFID標籤(Tag)卻可以受到大家的矚目
示波器重點基礎量測-台北場 (2008.01.14)
示波器是基礎電子以及數位研發工程師最普遍的量測儀器。許多研發工程師新手因為沒有時間深入瞭解示波器的功能,以及正確的使用方法,而浪費了許多寶貴的時間在電路除錯上; 如此不僅拖延了產品出貨的時間,也造成了下游客戶的損失
示波器重點基礎量測-新竹場 (2008.01.14)
示波器是基礎電子以及數位研發工程師最普遍的量測儀器。許多研發工程師新手因為沒有時間深入瞭解示波器的功能,以及正確的使用方法,而浪費了許多寶貴的時間在電路除錯上; 如此不僅拖延了產品出貨的時間,也造成了下游客戶的損失
NI發表由USB介面控制RMS RF功率計 (2008.01.09)
NI發表第一款由USB控制的RMS RF功率計(Power Meter),可針對自動化測試、量測,與監控應用,提供極高彈性的解決方案。6 GHz NI USB-5680功率計具有極高的量測精確度與動態範圍,並僅具有一般電源供應器(Power head)的尺寸
KLA-Tencor推出45奈米晶圓幾何量測解決方案 (2008.01.08)
KLA-Tencor公司推出WaferSight 2,是半導體產業中第一個可讓晶圓供應商和晶片製造商以45奈米以下尺寸所需的高精度和工具匹配度,在單一系統中測量裸晶圓平坦度、形狀、捲邊及奈米形貌的測量系統
Testronic實驗室選定Tektronix作SATA測試 (2007.12.26)
全球測試、量測和監控儀器廠商Tektronix宣佈,測試與驗證中心Testronic實驗室,已選定Tektronix AWG7000任意波形產生器,作為高速串列匯流排標準的測試服務。AWG7000是Tektronix測試台不可或缺的一部分,可為 HDMI、SATA、PCI-Express、Ethernet、DisplayPort及其他串列資料標準技術的產品進行驗證
安捷倫科技擴增USB介面資料蒐集器系列產品 (2007.12.25)
安捷倫(Agilent)USB介面資料蒐集器(DAQ)系列單機獨立運作/模組式解決方案新近推出新產品,可讓客戶建構出更彈性且具有擴充性的系統。 安捷倫科技資料蒐集器系列產品可單機獨立運作或做為模組式儀器使用,提供多種多功能的資料蒐集器和數位輸入/輸出模組,若搭配Agilent U2781A模組式機箱使用,可輕鬆將通道數擴充到最多384個
Tektronix推出DisplayPort發射器測試自動化技術 (2007.12.19)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix,推出初期採用軟體,可自動完整地,進行在DisplayPort實體層信號源相容性測試規格中所指定的測試。此軟體加入了預先定義的測試組,可自動執行、縮短測試時間,並將使用者手動操作的需要減到最少
The MathWorks發表最新版本的系統測試工具箱 (2007.12.19)
The MathWorks公司發表最新版本的系統測試工具箱(SystemTest 2.0);此工具箱為負責測試管理和分析的軟體,主要提供系統驗證及有效性檢測。 The MathWorks在台總代理鈦思科技表示,工程人員現在可以將彼此獨立的測試結果,或者彼此獨立的Simulink models的模擬工作分配到多個處理器中,而不需要以人工方式進行

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