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NI將於Semicon Taiwan展出智能型開放式ATE自動化測試設備 (2016.09.07)
在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。NI國家儀器於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間 |
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NI與 Astronics 攜手開創航太與國防測試系統新局面 (2015.11.23)
NI 國家儀器與 Astronics的全資子公司 Astronics Test Systems將攜手打造 PXI 架構的航太與國防產品。Astronics擁有測試系統整合的優勢，再加上NI 在 PXI 架構自動化測試系統領域的地位，預期可打造出適合自動化測試設備 （ATE） 應用的系列產品 |
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惠瑞捷推出V6000快閃記憶體及DRAM測試系統 (2008.11.28)
惠瑞捷(Verigy) 宣佈推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備 (ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等 |
USB的沿革歷史充滿曲折，其中各大廠商從本位主義的相互對抗，到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作，能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省？
