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CTIMES / 故障偵測
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
ADI新款四通道保護器與多工器具有可編程故障偵測功能 (2015.07.13)
亞德諾半導體(ADI)發表一款四通道保護器以及兩款多工器,能夠為運作於4.5 V低壓至36 V電壓下的精密轉換器、放大器、以及其它元件提供+/- 55 V的過電壓保護(OVP)。ADG5462F四通道保護器、ADG5248F 8:1多工器、以及ADG5249F差動式4:1多工器在通電與斷電級提供+/- 55 V的VOP

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