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CTIMES / 戴定普
科技
典故		 只有互助合作才能雙贏——從USB2.0沿革談起

USB的沿革歷史充滿曲折，其中各大廠商從本位主義的相互對抗，到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作，能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省？
提高IC測試品質的設計策略 (2005.05.05)
奈米製程讓IC測試品質面臨許多新挑戰，本文將介紹各種可用以提高測試品質的可測試設計策略；例如利用可準確產生時脈週期之PLL來進行實速測試，以及全速式記憶體內建自我測試等
可重複使用的系統單晶片平台式設計 (2002.12.05)
為了提高系統單晶片（SoC）的生產效能，許多研發團隊都企圖尋求適合系統單晶片平台式設計的解決方案；因為這些有著不同應用目的的平台式參考設計，會比傳統的系統單晶片設計具有更大的優勢

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