NI國家儀器推出無線測試系統（WTS），一款可大幅降低大量無線製造測試成本的解決方案。儘管無線測試的複雜度與日俱增，有了這款具有最佳量測速度與平行測試功能的系統，企業即可有效降低測試成本，將生產效率提升好幾倍。

全新PXI架構的無線測試系統（WTS）完成了速度優化，將生產效率提升好幾倍。

「物聯網（IoT）等大趨勢將驅動更多的設備納入RF和感測器功能，以往這類設備的測試成本非常昂貴，但是測試成本不應該限制工程師創新或產品的經濟可行性」，Frost & Sullivan 的量測和儀器專案經理 Olga Shapiro 表示：「為了維持未來的獲利能力，企業必須重新思考自身的無線測試方法，採用新的模式。 由於 WTS 採用業界肯定的 PXI 平台，還有 NI 的市場專業做為堅強後盾，我們預期這個系統將對物聯網產生重大影響。」

WTS結合了最新的PXI硬體，針對多種標準、多種DUT和多種連接埠測試需求提供了單一平台。如果再搭配靈活的測試序列軟體一起使用，例如TestStand Wireless Test Module，即可在平行測試多個裝置時，大幅提升儀器的使用效率。WTS 具有立即可用的測試序列，適合搭載Qualcomm與Broadcom晶片組的裝置，此外還配備整合式DUT與遠端自動化控制功能，可輕鬆整合至生產線。這樣一來，客戶即可大幅提升RF測試設備的效率，進一步降低測試成本。

「我們使用NI無線測試系統，即可透過同個設備測試多種無線技術，包括藍牙、WIFI、GPS 和無線行動技術」，HARMAN/Becker 汽車系統公司的Markus Krauss表示：「WTS和NOFFZ的RF測試工程專業幫助我們大幅縮短了測試時間，加快測試系統的啟用速度。」

WTS是NI採用PXI硬體、LabVIEW和TestStand軟體開發而成的最新系統 （了解 2014 年推出的半導體測試系統）。 WTS可支援LTE Advanced、802.11ac和藍牙LE等無線標準，適用於WLAN存取點、行動裝置、資訊娛樂系統，以及其他納入行動、無線通訊與導航標準的多標準裝置製造測試作業。 WTS搭載軟體設計的 PXI 向量訊號收發器技術，可針對製造測試環境提供優異的 RF 效能，而且這個平台還能夠隨著千變萬化的 RF 測試需求而擴充。（編輯部陳復霞整理）