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Tektronix針對ONFI快閃記憶體標準推出測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部報導】   2016年11月28日 星期一

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Tektronix(太克科技)推出針對開放式NAND快閃介面(ONFI)標準的測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案可用於Tektronix高效示波器,包括可分析ONFI匯流排上DDR2/3模式的軟體,以及介面板為基礎的有效探測解決方案。

結合適用於ONFI 4.0標準的相容性測試軟體和使用Nexus介面板的有效探測。
結合適用於ONFI 4.0標準的相容性測試軟體和使用Nexus介面板的有效探測。

ONFI標準由ONFI工作小組發布,以簡化在消費性電子產品和計算平台中整合NAND快閃記憶體的程序。ONFI 4.0規格引入了進化的NV-DDR3介面,並具有VccQ = 1.2V運作能力,可有效提升效率和提高功耗,將NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴展至667 M /s和800 MT/s,並新增了 ZQ校準功能。

隨著速度的增加和電壓位準下降,使用ONFI匯流排的設計人員將面臨確保相容性、除錯時序問題和存取訊號等挑戰。TEK-PGY-ONFI軟體可讓設計和測試工程師能測試ONFI介面對ONFI匯流排時間參數的相容性,並提供命令、位址、資料輸入和資料輸出等事務的自動量測。TEK-PGY-ONFI軟體中的細節視圖功能透過使用類比波形註釋來協助除錯時序問題,從而關聯ONFI波形的每個電氣量測。

密集封裝和高資料速率使得對NAND快閃裝置的高完整性訊號存取充滿挑戰性。Tektronix為一系列不同的機械式波形因數提供支援,包括插槽式、直接連接和專利的邊緣探棒設計,適用於非常嚴格的機械要求。介面板和探棒的S參數模型可用於建立模型或產生要應用於示波器的去嵌入濾波器。

TEK-PGY-ONFI軟體可在具有4GHz-33GHz頻率的Tektronix MSO/DPO70000系列示波器上執行,並建議使用P7500或P7300系列探棒進行測試。對於某些ONFI的客戶測試,訊號存取可能效果不佳或根本不可用,因此,Tektronix 建議使用由Nexus提供的ONFI 152 ball NAND Flash Edge高完整性介面板,以順利存取訊號,同時維持訊號完整性。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示:「這個ONFI測試解決方案為我們的客戶提供了所需要的各種深入洞察資訊,讓他們能將以記憶體為基礎的產品更快速、更有信心地推向市場。與手動測試相較,此解決方案將可顯著降低相容性測試時間、簡化除錯程序,最終進而提高生產力。」

全新的TEK-PGY-ONFI軟體已加入Tektronix為其他記憶體技術 (包括eMMC、UFS和DDRA) 所提供的全方位解決方案集合。適用於Tektronix示波器和介面卡的Tektronix TEK-PGY-ONFI軟體現已上市。

關鍵字: 示波器  NAND  快閃介面  快閃記憶體  開放式  Tektronix(太克太克科技  測試系統與研發工具 
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