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OFDM射频缺陷问题与基频补偿技术
 


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開始時間﹕ 十月五日(二) 09:00 結束時間﹕ 十月五日(二) 16:00
主办单位﹕ 工研院產業學院
活動地點﹕ 台北学习中心科技大楼6楼-北市和平东路二段106号6楼
联 络 人 ﹕ 江小姐 联络电话﹕ 02-27377491
報名網頁﹕ http://college.itri.org.tw/SeminarView1.aspx?no=23100740&msgno=306156
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正交分频多任务(OFDM)技术已成为新的无线通信应用中最热门之传输调变选择,而使用OFDM技术可增加带宽、降低干扰、提高保密性并解决多路径衰减等通讯障碍。由于 OFDM 系统采用多载波调变方式,因此射频系统的设计面临许多严峻的挑战,例如在非线性放大器的设计规格上,I/Q 匹配的问题,以及相位噪声的影响等等。此课程即针对上述在 OFDM 系统中射频缺陷问题作探讨,并且介绍一些可行的基频补偿技术,以帮助在射频与基频设计的工程师解决实务射频缺陷的问题。

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