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是德科技推出小型BGA内插式探棒解决方案 (2015.09.01)
是德科技（Keysight）日前推出BGA（球栅阵列）内插式探棒解决方案，让工程师能够使用逻辑分析仪测试DDR4 x16 DRAM（动态随机存取记忆体）设计。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA内插式探棒解决方案，工程师可以快速准确地撷取位址和指令信号，以及资料信号的子集，以便对资料传输速率高达2,400 Mb/s的设计进行除错并执行效能验证量测 |
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是德科技推出PCIe Gen3协议分析测试解决方案 (2014.11.26)
是德科技（Keysight）日前推出可加速PCIe Gen3系统开发的U4301B PCIe协议分析仪。U4301B充分支持从2.5 GT/s（Gen1）到8 GT/s（Gen3）的PCIe速度，以及x1至x16的链路宽度。该分析仪并标配分析工具，可用于验证PCIe LTSSM（链路训练和状态机）程序、NVM（永久性内存）Express，及AHCI（进阶主机控制器接口）传输协议运作状况 |
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是德科技于MemCon会议中展示全方位DDR4/LPDDR4测试方案 (2014.11.20)
工程师可对所有大于3.1 Gb/s之DDR4 DIMM地址、指令和数据讯号同步进行状态撷取
是德科技（Keysight）日前在美国加州举办的MemCon会议中，展示全方位的仿真、除错、验证和测试解决方案，以支持最快速的内存设计 |
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Tektronix推出全新TLA7S16与TLA7S08串行分析仪 (2007.09.19)
测试、量测和监控仪器厂商Tektronix，宣布推出全新TLA7S16与TLA7S08串行分析仪，可供进行PCI Express（PCIe）1.0与2.0设计的测试与验证。全新的Tektronix串行分析仪产品，独家提供了详细的PCIe 2.0通讯协议信息，以及跨总线的分析 |
