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是德科技推出小型BGA內插式探棒解決方案 (2015.09.01)
是德科技（Keysight）日前推出BGA（球柵陣列）內插式探棒解決方案，讓工程師能夠使用邏輯分析儀測試DDR4 x16 DRAM（動態隨機存取記憶體）設計。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA內插式探棒解決方案，工程師可以快速準確地擷取位址和指令信號，以及資料信號的子集，以便對資料傳輸速率高達2,400 Mb/s的設計進行除錯並執行效能驗證量測 |
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是德科技推出PCIe Gen3協定分析測試解決方案 (2014.11.26)
是德科技（Keysight）日前推出可加速PCIe Gen3系統開發的U4301B PCIe協定分析儀。U4301B充分支援從2.5 GT/s（Gen1）到8 GT/s（Gen3）的PCIe速度，以及x1至x16的鏈路寬度。該分析儀並標配分析工具，可用於驗證PCIe LTSSM（鏈路訓練和狀態機）程序、NVM（永久性記憶體）Express，及AHCI（進階主機控制器介面）傳輸協定運作狀況 |
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是德科技於MemCon會議中展示全方位DDR4/LPDDR4測試方案 (2014.11.20)
工程師可對所有大於3.1 Gb/s之DDR4 DIMM位址、指令和資料訊號同步進行狀態擷取
是德科技（Keysight）日前在美國加州舉辦的MemCon會議中，展示全方位的模擬、除錯、驗證和測試解決方案，以支援最快速的記憶體設計 |
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Tektronix推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀 (2007.09.19)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix，宣佈推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀，可供進行PCI Express（PCIe）1.0與2.0設計的測試與驗證。全新的Tektronix串列分析儀產品，獨家提供了詳細的PCIe 2.0通訊協定資訊，以及跨匯流排的分析 |
