 |
安捷伦科技赢得EuroAsia 2007 IC工业大奖 (2007.08.06)
安捷伦科技（Agilent Technologies）日前宣布，该公司的Agilent B1500A半导体组件分析仪获颁EuroAsia 2007 IC Industry Award的Best Final Manufacturing Technology工具奖。EuroAsia Semiconductor杂志赞助发起EuroAsia IC工业大奖的目的是为了表彰在IC制造上有杰出表现者，由业界同僚以投票的方式选出得奖者，并于7月18日在旧金山公开颁奖 |
 |
安捷伦科技推出4080系列新款参数测试平台 (2007.04.24)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）发表专为解决半导体制造与研究环境工程人员之评估需求而设计的新一代参数测试平台。Agilent 4080系列以前所未见的效能，涵盖完整范围之量测需求 - 从主流制程到45奈米以上的先进制程 |
|
安捷伦与CWS合作提供完整可靠度测试解决方案 (2007.02.27)
安捷伦科技（Agilent）日前宣布与专为半导体测试市场提供加速和长期可靠度测试解决方案及分析工具厂商Core Wafer Systems（CWS）达成一项协议。CWS的ASUR（Advanced Scaleable Unified Reliability；先进可扩充统一可靠度）解决方案套件独家采用安捷伦的系统测试仪器，组成单器件可靠度（SDR）和多址平行器件可靠度（PDR）测试产品 |
|
安捷伦参数测试解决方案获茂德科技选用 (2005.05.25)
安捷伦科技（Agilent Technologies）日前宣布，茂德科技中科12吋晶圆厂选中安捷伦4072B参数测试解决方案，以测试其高效能的标准型DRAM产品，原因是这套测试系统不论在速度和性能上皆大幅领先它厂 |
|
安捷伦半导体组件分析仪可整合CV及IV量测能力 (2005.04.29)
安捷伦科技（Agilent Technologies）推出一套Windows架构的半导体组件分析仪，可将电容相对于电压（CV）及电流相对于电压（IV）等两种量测能力整合到单一仪器中，不仅有助于节省半导体测试时间，同时还能提高生产力 |
|
安捷伦推出两款DC/RF/Pulse参数测试系统 (2005.03.16)
安捷伦科技（Agilent Technologies）新近推出Agilent 4075及4076 DC/RF/Pulse参数测试系统，可量测65 nm等先进制程技术所制造之组件的特性。Agilent 4075及4076可让半导体测试工程师量测RF和DC的特性 |
