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美商亚德诺发表高度整合双轴倾斜计 (2007.11.28)
美商亚德诺公司(Analog Devices;ADI）发表一款高度整合的双轴倾斜计，使得具有极高精确度与易于使用的倾斜传感器成为工业设备制造厂商负担得起并且可以取用的选择。ADIS 16209可编程双重模式倾斜传感器适用于各式各样需要对倾斜变化进行量测的工业应用领域 |
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安捷伦超薄型示波器获Mesures杂志创新奖 (2007.11.27)
安捷伦科技（Agilent）宣布荣获Mesures杂志的创新奖，该杂志是巴黎一家专门报导量测仪器和工业自动化的月刊。在其第12届年度Palmarès科技奖名单中，安捷伦的6000L系列超薄型示波器也入选其中，该仪器采LXI（LAN eXtensions for Instrumentation；以LAN为基础所延伸发展的仪器平台）标准，并针对测试系统进行过优化 |
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太克混合讯号示波器获年度设计与测试产品入围 (2007.11.27)
太克(Tektronix)宣布该公司的MSO4000混合讯号示波器，在Electronics Weekly举办的2007 Elektra Awards中被提名「年度设计与测试产品」类决赛入围。
于今年4月问世的MSO4000混合讯号示波器，可用于嵌入式设计和除错，并结合三种强大的功能：突破性的Wave Inspector波形搜索引擎、先进的实时示波器，以及基本的逻辑分析仪功能 |
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R＆S技术讨论会揭橥无线通信量测大方向 (2007.11.26)
无线通信量测大厂罗德史瓦兹（R＆S）今起于台北、新竹和高雄接连举办一年一度的技术讨论会，R＆S台湾区总经理蔡吉文表示，R＆S将会持续在各类行动通讯、广播电视标准、FMC（Fixed and Mobile Convergence）、以及各级RF天线技术领域推出各式量测解决方案 |
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Tektronix宣布开始供应Spectra2 XL (2007.11.26)
全球通讯网络管理与诊断解决方案提供者Tektronix, Inc.宣布开始供应Spectra2 XL，这是加强的Spectra2 VoIP与IMS测试平台。Spectra2 XL提供客户一个新平台，它的SIP测试负载产生容量增加800%，同时也增加了测试其他VoIP和IMS通讯协议的容量 |
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致茂推出次世代多媒体显示器视讯量测解决方案 (2007.11.22)
在多媒体显示器产业需求的多变化下，大尺寸TV的需求日益提升，市场渗透率也持续增加，为了因应不同产线的测试与应用，以及有效控制成本且维持讯号质量，长久以来讯号产生器已在次世代产线扮演着重要的角色 |
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太克科技2007年亚太区巡回研讨会 (2007.11.21)
新数字技术的崛起，为电子产业带来新的挑战及契机。太克科技公司将举办「太克科技2007年亚太区巡回研讨会」记者会。会中将针对「新数字世界」及「高速串行数据」做介绍，内容则着重于「实现新数字世界创新技术」议题的探讨 |
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英特尔呼吁半导体业界转向18吋晶圆生产 (2007.11.20)
外电消息报导，英特尔（Intel）日前对媒体表示，目前英特尔正在进行18吋（450毫米）晶圆厂的转换工作，并预计在2010年时完成此一目标，以提高整体的芯片生产效能。
据报导 |
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Virginiia学生使用NI LabVIEW开发化类人机器人 (2007.11.20)
维吉尼亚理工大学（Virginia Tech）的机器人与机器装置实验室（Robotics & Mechanisms Laboratory RoMeLa）学生，使用NI LabVIEW图形化系统设计平台，开发双足的类人机器人。智能型动态拟人机器人（Dynamic Anthropomorphic Robot with Intelligence，DARwIn）原来是为了义肢的研究与开发所设计 |
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Tektronix客户服务与支持二度荣获SSPA STAR奖 (2007.11.20)
Tektronix荣获服务与支持专业协会（Service & Support Professionals Association，SSPA）2007年STAR奖。SSPA 是最大且最具影响力的技术服务与支持专业人士协会，也是Value-Added Support的创立者 |
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安捷伦发表适用7 Gb/s高速装置的信号产生器平台 (2007.11.20)
安捷伦（Agilent）发表一款HDMI TMDS（Transition-Minimized Differential Signaling；最小化传输差动信令）信号产生器平台，其可用来测试高达7 Gb/s的HDMI高速装置。此平台适用于经济型产品的研发、深入的芯片特性描述、以及授权测试中心的符合性通过/失败测试 |
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提升半导体测试精确度的模块化图形系统设计架构 (2007.11.19)
整合越来越多功能的半导体制程，也越来越需要更为严谨且精准的验证测试套件。逐渐迈向工业测试标准的PXI模块化仪器以及图形化系统设计（Graphical System Design）解决方案，已经带动起IC测试业界的新风潮，成为半导体各类讯号测试不可或缺且重要的辅助依据 |
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安捷伦与Anite策略联盟推3GPP LTE测试解决方案 (2007.11.19)
安捷伦科技（Agilent Technologies）与Anite plc宣布双方将组成策略联盟伙伴，为专门设计新一代行动通讯产品的无线通信研发工程师，提供领先业界的3GPP LTE（Long Term Evolution；长期演进）测试解决方案 |
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安捷伦发表新版ADS先进设计系统2008 EDA软件 (2007.11.19)
安捷伦科技（Agilent Technologies）发表ADS先进设计系统2008（ADS 2008）软件，ADS先进设计系统是高频、高速EDA电子设计自动化软件平台。新版软件在工作效率上做了更大的突破，可加快通讯产品的设计速度 |
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NI LabVIEW SignalExpress 2.5提升多种效能 (2007.11.19)
NI最新发表的LabVIEW SignalExpress 2.5，为交互式的量测软件，可简化、分析，并呈现来自于数百种数据捕获设备与仪器的数据。LabVIEW SignalExpress以NI LabVIEW图形化程序设计为基础，具有简单易用的拖曳式环境，适用于设定数据记录与仪器控制的应用 |
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简易量测感测器硬体及软体介面简化设计 (2007.11.19)
透过Easy Drive ADC架构，量测高阻抗感测器可以变得更简单，设计师也可摆脱其ADC前端的放大器，而于ADC输入加入小型分离电容，以作为充电库。透过单通道及多通道版本、I2C及SPI、16或24位元解析度，完整的Easy Drive ADC系列，将可精确地数位化任何感测器、负载电流或电压 |
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Tektronix获颁第7座艾美奖 (2007.11.16)
全球测试、量测及监测仪器厂商Tektronix, Inc.宣布，美国全国电视艺术科学学会(National Academy of Television Arts and Sciences，NATAS)颁发技术与工程艾美奖给该公司，得奖原因是「ATSC与DVB符合性的实时传输串流监测」 |
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英飞凌树立封装技术工业新标准基础 (2007.11.15)
英飞凌科技与半导体封装暨测试厂日月光半导体（ASE），宣布双方将合作导入更高密度封装尺寸与具几达无限脚数的半导体封装技术，这项新封装规格比传统封装技术（导线架压层板）在尺寸上可缩小30% |
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奥宝科技协助电子组装业者体验无瑕疵制程 (2007.11.14)
奥宝科技正式发布举办「零缺点制程体验」活动，重点介绍该公司研发的全方位瑕疵预防解决方案，将电子组装业所使用的自动光学检测(AOI)技术，从传统单纯的瑕疵侦测角色扩展至能够改善整个生产线质量的高效能工具 |
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转机就是商机 (2007.11.13)
从来没有像现在这样，量测技术对于IC设计而言变得这么重要，产品设计流程就是一连串的量测过程。所有电子产品都结合了复杂多样的IC功能，面对现在多核心处理器的千变万化，能够「以一挡百」、以系统设计为架构、图形化接口软件为平台的量测技术，才能应付高整合难度的IC设计流程 |
高度整合的芯片组不过是这几年才发生的事，如果说CPU是计算机的脑部，Chipsets就可算是计算机的心脏了。
