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NI发表显示器检测系统 (2002.04.12)
National Instruments(慧碁)发布了一套功能强大、现成即用的软硬件整合解决方案—全新的NI显示器检测系统(NI Display Test)，用于可靠的平面显示器检测。NI显示器测试系统为生产在线及实验室里的工程师提供了一套性能超群的测试方案，足以胜任目前及未来各种测试、量测领域的任务需求 |
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NI新推出PXI嵌入式控制器展现实时控制效能 (2002.03.15)
工程师们现在能够建立高达40 kHz控制回路的高速实时控制系统，这一突破要归功于National Instruments(慧碁)近日所发布最快的RT系列PXI嵌入式控制器-NI 8176 RT 和 NI 8175 RT。
坚固封装的NI 8176 RT控制器拥有1.2 GHz处理器，且执行LabVIEW Real-Time（LabVIEW 实时控制）程序时，速度比其他实时控制器快300%；比NI前一代功能最强的实时控制器-PXI 8170 RT快28% |
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NI LabVIEW 6.1增强了基于Web的测量功能 (2002.02.04)
National Instruments(慧碁)发布了最新的LabVIEW 6.1。LabVIEW是NI公司所发展产业界所接受的图形化开发环境，用于完成从研发到工业生产等各个环节测试，监控等应用系统的开发。NI 的LabVIEW 6.1建立在LabVIEW 6i Web功能的基础上，进一步简化了远程应用程序的产生，同时还集结了最新的XML和无线通信技术 |
当传输技术进入数字时代之后，用户及厂商对于数字显示的质量要求越来越注重，结合显示适配器硬件的数字显示接口标准，其发展进度因而更受到瞩目。
