账号：
密码：
CTIMES / 電氣結構測試儀
科技
典故		 只有互助合作才能双赢——从USB2.0沿革谈起

USB的沿革历史充满曲折，其中各大厂商从本位主义的相互对抗，到尝尽深刻教训后的Wintel合作，能否给予后进有意「彼可取而代之」者一些深思与反省？
是德科技打线接合检测解决方案适用於半导体制造的 (2024.08.29)
是德科技（Keysight）推出电气结构测试仪（EST），这是一款适用於半导体制造的打线接合检测解决方案，可确保电子元件的完整性和可靠性。由於医疗设备和汽车系统等关键任务应用中的晶片密度不断增加，半导体产业正面临着测试挑战

  十大热门新闻
1 是德科技打线接合检测解决方案适用於半导体制造的

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw