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KEITHLEY推出ACS 3.2版自動特性分析套件軟體 (2008.02.13)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）宣布推出3.2版的ACS（Automated Characterization Suite）軟體，支援半導體元件測試，以及元件、晶圓、晶舟層級特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了強大的多部位並行測試（multi-site parallel test）能力 |
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安捷倫手持式RF頻譜分析儀獲EDN創新獎提名 (2008.02.13)
安捷倫科技（Agilent）宣佈旗下首款手持式RF頻譜分析儀Agilent N9340A榮獲2007 EDN China創新獎的最佳測試與量測產品。EDN China創新獎源自於EDN創新獎，是一個備受中國微電子領域關注的重要獎項 |
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安捷倫科技示波器新品發表會 (2008.02.13)
隨著嵌入式設計愈來愈普及，較大的顯示器對於必須在同一個螢幕上查看多種混合信號的工程師來說變得更加重要。對高速數位設計工程師而言，設計的邊限不斷地縮小，因此他們需要擁有優異的信號完整性與深度記憶體的示波器來進行深入的分析 |
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KLA-Tencor為Aleris薄膜量測系列增添兩款新品 (2008.02.12)
KLA-Tencor公司宣布推出Aleris 8310和Aleris 8350，為Aleris薄膜量測系列增添兩款新品。這兩款新機台採用KLA-Tencor最新一代的寬頻光譜橢圓偏光法（BBSE，Broadband Spectroscopic Ellipsometry）光學元件，讓晶片製造商得以測量多層薄膜的厚度、折射率與應力，滿足先進製程的薄膜度量要求 |
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NI發表首款PXI SMU與高密度PXI切換器 (2008.02.12)
美商國家儀器（NI）發表首款PXI電源量測單位（SMU），與高密度的PXI切換器。這些產品可提升精確DC應用中的PXI平台效能，如半導體參數測試，與電子裝置的檢驗作業。與傳統儀器相較，工程師可搭配使用這些低價位的小型模組，於高針腳數裝置中進行電壓與電流參數的精確特性記述（characterize）作業 |
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全新中階Tektronix時頻譜分析儀顯示 即時RF (2008.02.12)
Tektronix宣佈，中階RSA3000B系列即時頻譜分析儀，新增了DPX波形影像處理器技術。使用RSA3300B與RSA3408B系列機型，可提供獨特的頻譜即時RF檢視，讓廣泛的數位RF應用，獲得前所未有的RF訊號發現能力，包括RFID、無線通訊和頻譜管理等應用 |
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Aeroflex為其基地台測試系統新增寬頻AMR支援 (2008.02.12)
Aeroflex宣佈為其高度成功性的6113 AIME(空中介面監控模擬，Air Interface Monitor Emulation)基地台協定測試系統新增寬頻AMR(自適性多重速率，Adaptive Multi-Rate)支援，此新功能並將對3GPP TS45.003測試規格產生影響 |
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即時抖動與眼狀圖分析 (2008.02.02)
DPOJET是適用於即時示波器的首要眼狀圖、抖動與時序分析套件。在今日的高速串列、數位與通訊系統設計中，DPOJET利用其完備的抖動與眼狀圖分析及分解演算法，簡化了發現訊號完整性考量、抖動及其相關信號源問題 |
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安捷倫推出PCIe 2.0適用的新符合性測試解決方案 (2008.01.31)
安捷倫科技（Agilent）繼金標準（gold standard）協定測試卡I（PTC I）之後，再度推出PCI Express (PCIe) 2.0適用的PTC II。安捷倫科技PTC II提供所有必要的測試案例，可確保裝置符合PCI-SIG (PCI Special Interest Group)規格及促進產業建置PCIe |
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美商國家儀器與聯合大學 成立LabVIEW認證中心 (2008.01.31)
有鑒於台灣電子產業界快速發展，尤其以新竹科學園區近十年來發展之快，連帶影響周邊地區的產業結構，如竹北、竹東甚至苗栗地區，也開始蓬勃起來。而當前高科技跨領域人才不足，國立聯合大學在美商國家儀器（National Instruments,NI）的支持下，於97年1月成立『LabVIEW認證中心』 |
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NI加入多核心協會 提升軟體與硬體可互通性 (2008.01.30)
NI宣布加入多核心協會（The Multicore Association）。該協會為全球性的非營利組織，專職於縮短多核心架構產品的上市時間。NI身為協會的一員，持續與技術領先的廠商合作，包含Intel、Freescale Semiconductor，與Wind River，以提升作業系統、硬體，與軟體開發工具的互通性，讓使用者可享受到多核心技術所提升的系統效能 |
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AT4 wireless採用安捷倫WiMAX輻射效能測試設備 (2008.01.30)
安捷倫科技（Agilent）與ETS-Lindgren宣佈AT4 wireless無線實驗室決定採用他們所提供的WiMAX輻射效能測試（RPT）設備。AT4 wireless是提供WiMAX輻射效能測試的實驗室之一。
AT4 wireless美國分公司決定利用ETS-Lindgren的RPT系統來開發RPT能力 |
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美國NFL與Anritsu簽訂頻譜分析儀採購合約 (2008.01.29)
Anritsu接受美國職業橄欖球聯盟(NFL)一筆超過50萬美金的採購合約，將提供聯盟36台MS2721B Spectrum Master掌上型頻譜分析儀。這些MS2721B頻譜分析儀將被NFL球賽日頻道協調員(NFL’s Game Day Frequency Coordinators, GDC)用於研究、除錯和分析聯盟32個球場於賽前、比賽中以及賽後的RF頻譜使用情況 |
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安捷倫推出新的互動式功能測試軟體 (2008.01.25)
安捷倫科技（Agilent）發表旗下8960系列10（E5515C）無線通訊綜合測試儀試用的，新款互動式功能測試（IFT）軟體。這款新的IFT軟體可強化此測試儀的功能測試能力，它提供一個可實際測試“使用者經驗”（user experience）的簡易、自動化介面，讓使用者在真實的網路環境中對蜂巢式行動裝置進行應力測試 |
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安捷倫推出新光纖多埠功率錶提升製造速度 (2008.01.24)
安捷倫科技（Agilent）推出一款具有4或8個功率感應器通道的光纖功率錶，可為從事製造的客戶提供更快的製造速度與操作效率。這些光纖功率錶是專為分析光纖多埠元件的特性而設計，其為各裝置的連接、高速量測下資料的蒐集以及後續資料處理快速分析傳輸上，提供了解決方案 |
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Anritsu推出經濟型微波頻譜分析儀強化版 (2008.01.24)
Anritsu Company再次強化其MS271xB系列，使經濟型微波頻譜分析儀可針對六項普遍的無線系統建置提供專屬的解調變硬體及預寫測試程序–包括Fixed/Mobile WiMAX、W-CDMA/HSDPA、cdmaO ne、CDMA2000、EVDO及GSM/GPRS/EDGE |
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R&S將於2008年全球行動通訊大會展現測試方案 (2008.01.23)
羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz, R&S）將於2月11-14日在西班牙巴塞隆納舉行的2008年全球行動通訊大會（Mobile World Congress）中展示全面性的產品。包括針對3GPP LTE,HSPA+及WiMAX規範並擁有MIMO功能的高精確度測試設備，兼具輕巧外型及高生產量的產線解決方案，以及所有功率類別的行動電視發射機 |
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去年12月北美半導體設備訂貨額減少18% (2008.01.21)
外電消息報導，國際半導體設備與材料協會（SEMI）日前發表一份最新的資料顯示，2007年12月北美半導體設備廠商的訂貨金額為12.3億美元，訂貨出貨比為0.89%，較上月的11.3億美元成長9%，但較去年同期的15.0億美元訂貨金額下滑了18% |
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羅德史瓦茲發表新型測試發射機 (2008.01.18)
羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz,R&S）發表新型測試發射機SFE100，瞄準機上盒，電視組和其他廣播終端產品和模組在生產線上的測試應用。精簡的設計使得該款儀器很容易安裝，整合在複雜的測試系統中也不成問題 |
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Tektronix兩項產品獲得最佳測試產品獎 (2008.01.18)
Tektronix宣布，Test & Measurement World雜誌編輯群，票選Tektronix兩項產品獲得2008年業界「最佳測試產品（Best in Test）」獎。獲獎的是DSA70000數位串列分析儀－僅12項產品獲此殊榮－而MSO4000系列混合訊號示波器則獲該獎佳作 |
