CTIMES - 儀器設備

STMicroelectronics將採用安捷倫RF電磁模擬器 (2008.01.16)
安捷倫科技（Agilent）宣佈，全球微電子應用半導體解決方案供應商STMicroelectronics，決定以安捷倫Momentum電磁（EM）模擬器為其旗下RFIC設計流程的一部分。這項整合將可協助STMicroelectronics提升RFIC設計流程的速度與效率

安捷倫推可在極端溫度執行量測之探測解決方案 (2008.01.16)
安捷倫科技（Agilent）發表可在極端溫度的環境測試箱（environmental chamber）與其他設定下用於執行示波器量測的探測解決方案。 Agilent N5450A InfiniiMax極端溫度延伸接線可搭配InfiniiMax系列探測系統和Agilent Infiniium示波器使用，使工程師能夠在-55℃到150℃的溫度範圍內探測信號

Tektronix測試解決案方獲日本百佳泰採用 (2008.01.16)
Tektronix與日本百佳泰（Allion）公司宣佈，百佳泰現在於日本推出的高畫質多媒體介面（High Definition multimedia Interface，HDMI），採用Tektronix測試與量測設備。日本百佳泰提供客戶多種服務，包括HDMI CTS（Compliance Test Specifiation，相容性測試規格）

Aeroflex新增OMA安全用戶平面支援 (2008.01.15)
Aeroflex新增OMA安全用戶平面支援強化A-GPS定位服務的符合性測試系統Aeroflex宣佈透過對於開放性行動聯盟安全用戶平面(OMASUPL)1.0之支援，針對定位服務強化其6103及6401 A-GPS符合性測試系統

高速電路阻抗量測的原理及應用 (2008.01.14)
在高速電路的應用上，越來越突顯類比特性的重要性。想知道如何在數位設計中掌握設計關鍵？如何將TDR (時域反射器) 應用在高速電路的設計中，並成為電子工程師最快的解決方案嗎？此課程將有詳細說明

即時頻譜分析儀基本原理及應用 (2008.01.14)
從傳統超外差掃描式教程Part1的頻譜分析儀，到最新數位FFJ方式的即時頻譜分析儀，從傳統類比調變到新一代數位調變訊號的分析，皆在此課程中有詳細的介紹。RFID的超小調變深度，PLL的鎖相時間變化，GSM/EDGE的分時多工及WLAN複雜的OFDM解調，各類不同應用訊號的量測，亦會做一深入淺出的介紹

嵌入式系統設計驗證與除錯技術研討會 (2008.01.14)
課程內容包含測試與量測的基本概念、淺談雜訊來源與信號完整性議題(設定、保持時間違規的量測…等) 、低速串列匯流排(CAN、I2C、SPI)簡介與嵌入式系統設計驗證與除錯測試實務

視訊系統概論及量測應用 (2008.01.14)
視訊系統信號處理方式正從Analog世界演變至Digital世界，因此在信號量測上面臨極大考驗，但確保信號高品質及高信賴度，仍是工程上追求的首要目標。本課程主要目的在提供工程師從類比至數位信號完整的量測解決方案，並探討未來技術的演變

邏輯分析儀基本原理及應用-新竹場 (2008.01.14)
使用以Win 2000為操作平台的新型邏輯分析儀系列，只要透過單一探棒狀態配合每波道500ps 的解析度及5Gs/s的示波器模組，透過軟、硬體中Source Code, Assemble Code與Timing Cycle的連結，提供高速數位軟、硬體的解決方案

邏輯分析儀基本原理及應用-台北場 (2008.01.14)
使用以Win 2000為操作平台的新型邏輯分析儀系列，只要透過單一探棒狀態配合每波道500ps 的解析度及5Gs/s的示波器模組，透過軟、硬體中Source Code, Assemble Code與Timing Cycle的連結，提供高速數位軟、硬體的解決方案

安捷倫DDR II 應用量測研習營--新竹場 (2008.01.14)
DDR II/III量測技術一直是記憶體製造商以及系統整合廠最令人頭痛的問題，從量測製具的設計、如何有效地利用探棒擷取信號，以及利用複雜的觸發功能進行讀寫信號的分離，都是研發工程師需要長期研究的課題

安捷倫DDR II 應用量測研習營-台北場 (2008.01.14)
DDR II/III量測技術一直是記憶體製造商以及系統整合廠最令人頭痛的問題，從量測製具的設計、如何有效地利用探棒擷取信號，以及利用複雜的觸發功能進行讀寫信號的分離，都是研發工程師需要長期研究的課題

示波器重點基礎量測-台北場 (2008.01.14)
示波器是基礎電子以及數位研發工程師最普遍的量測儀器。許多研發工程師新手因為沒有時間深入瞭解示波器的功能，以及正確的使用方法，而浪費了許多寶貴的時間在電路除錯上; 如此不僅拖延了產品出貨的時間，也造成了下游客戶的損失

示波器重點基礎量測-新竹場 (2008.01.14)
示波器是基礎電子以及數位研發工程師最普遍的量測儀器。許多研發工程師新手因為沒有時間深入瞭解示波器的功能，以及正確的使用方法，而浪費了許多寶貴的時間在電路除錯上; 如此不僅拖延了產品出貨的時間，也造成了下游客戶的損失

高頻數位示波器基本原理及應用 (2008.01.14)
學習善用功能強大的數位儲存示波器及其工作原理，並配合各種信號截取模式和觸發條件，使得待測信號無所遁形！本課程適合使用 500MHz (含) 以上頻寬示波器的使用者。

Holtek 無線USB晶片獲EDN China創新獎 (2008.01.09)
由盛揚半導體有限公司（Holtek）推出的無線USB語音傳輸晶片HT82A850R/HT82A851R榮獲IDG集團下屬權威電子雜誌EDN China設立的年度創新獎最高榮譽--2007年度"最佳產品獎"。2007年11月8日，EDN China雜誌社在深圳深航錦江國際酒店舉辦的創新大會上授予了盛揚半導體公司該獎項，由盛揚半導體副總經理陳一南先生領取

NI發表由USB介面控制RMS RF功率計 (2008.01.09)
NI發表第一款由USB控制的RMS RF功率計（Power Meter），可針對自動化測試、量測，與監控應用，提供極高彈性的解決方案。6 GHz NI USB-5680功率計具有極高的量測精確度與動態範圍，並僅具有一般電源供應器（Power head）的尺寸

海博爾與R&S合作藍牙測試設備獲認證 (2008.01.08)
海博爾公司(Hyper Taiwan)宣佈與羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz, R&S)合作研發的藍牙射頻整合測試系統-BRITS-R (Bluetooth RF Integration Test System-Rohde & Schwarz, BRITS-R)已於2007年11月通過SIG Validation Process，正式成為被Bluetooth SIG 核定為2.1版本+EDR Category A之RF測試認證系統

KLA-Tencor推出45奈米晶圓幾何量測解決方案 (2008.01.08)
KLA-Tencor公司推出WaferSight 2，是半導體產業中第一個可讓晶圓供應商和晶片製造商以45奈米以下尺寸所需的高精度和工具匹配度，在單一系統中測量裸晶圓平坦度、形狀、捲邊及奈米形貌的測量系統

安捷倫發表新款自動化光學檢測平台 (2008.01.08)
安捷倫科技（Agilent Technologies）將於11月13日在德國Productronica貿易博覽會上展出新款自動化光學檢測（AOI）平台。 gilent Medalist sj5000 AOI解決方案以後回流（post-reflow）檢測為目標，其採用容易使用且彈性的平台，可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術（SMT）瞬息萬變的需求