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美商亞德諾發表高度整合雙軸傾斜計 (2007.11.28)
美商亞德諾公司(Analog Devices;ADI）發表一款高度整合的雙軸傾斜計，使得具有極高精確度與易於使用的傾斜感測器成為工業設備製造廠商負擔得起並且可以取用的選擇。ADIS 16209可編程雙重模式傾斜感測器適用於各式各樣需要對傾斜變化進行量測的工業應用領域 |
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安捷倫超薄型示波器獲Mesures雜誌創新獎 (2007.11.27)
安捷倫科技（Agilent）宣佈榮獲Mesures雜誌的創新獎，該雜誌是巴黎一家專門報導量測儀器和工業自動化的月刊。在其第12屆年度Palmarès科技獎名單中，安捷倫的6000L系列超薄型示波器也入選其中，該儀器採LXI（LAN eXtensions for Instrumentation；以LAN為基礎所延伸發展的儀器平台）標準，並針對測試系統進行過最佳化 |
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太克混合訊號示波器獲年度設計與測試產品入圍 (2007.11.27)
太克(Tektronix)宣佈該公司的MSO4000混合訊號示波器，在Electronics Weekly舉辦的2007 Elektra Awards中被提名「年度設計與測試產品」類決賽入圍。
於今年4月問世的MSO4000混合訊號示波器，可用於嵌入式設計和除錯，並結合三種強大的功能：突破性的Wave Inspector波形搜尋引擎、先進的即時示波器，以及基本的邏輯分析儀功能 |
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R＆S技術討論會揭櫫無線通訊量測大方向 (2007.11.26)
無線通訊量測大廠羅德史瓦茲（R＆S）今起於台北、新竹和高雄接連舉辦一年一度的技術討論會，R＆S台灣區總經理蔡吉文表示，R＆S將會持續在各類行動通訊、廣播電視標準、FMC（Fixed and Mobile Convergence）、以及各級RF天線技術領域推出各式量測解決方案 |
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Tektronix宣佈開始供應Spectra2 XL (2007.11.26)
全球通訊網路管理與診斷解決方案提供者Tektronix, Inc.宣佈開始供應Spectra2 XL，這是加強的Spectra2 VoIP與IMS測試平台。Spectra2 XL提供客戶一個新平台，它的SIP測試負載產生容量增加800%，同時也增加了測試其他VoIP和IMS通訊協定的容量 |
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致茂推出次世代多媒體顯示器視訊量測解決方案 (2007.11.22)
在多媒體顯示器產業需求的多變化下，大尺寸TV的需求日益提升，市場滲透率也持續增加，為了因應不同產線的測試與應用，以及有效控制成本且維持訊號品質，長久以來訊號產生器已在次世代產線扮演著重要的角色 |
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太克科技2007年亞太區巡迴研討會 (2007.11.21)
新數位技術的崛起，為電子產業帶來新的挑戰及契機。太克科技公司將舉辦「太克科技2007年亞太區巡迴研討會」記者會。會中將針對「新數位世界」及「高速串列資料」做介紹，內容則著重於「實現新數位世界創新技術」議題的探討 |
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英特爾呼籲半導體業界轉向18吋晶圓生產 (2007.11.20)
外電消息報導，英特爾（Intel）日前對媒體表示，目前英特爾正在進行18吋（450毫米）晶圓廠的轉換工作，並預計在2010年時完成此一目標，以提高整體的晶片生產效能。
據報導 |
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Virginiia學生使用NI LabVIEW開發化類人機器人 (2007.11.20)
維吉尼亞理工大學（Virginia Tech）的機器人與機器裝置實驗室（Robotics & Mechanisms Laboratory RoMeLa）學生，使用NI LabVIEW圖形化系統設計平台，開發雙足的類人機器人。智慧型動態擬人機器人（Dynamic Anthropomorphic Robot with Intelligence，DARwIn）原來是為了義肢的研究與開發所設計 |
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Tektronix客戶服務與支援二度榮獲SSPA STAR獎 (2007.11.20)
Tektronix榮獲服務與支援專業協會（Service & Support Professionals Association，SSPA）2007年STAR獎。SSPA 是最大且最具影響力的技術服務與支援專業人士協會，也是Value-Added Support的創立者 |
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安捷倫發表適用7 Gb/s高速裝置的信號產生器平台 (2007.11.20)
安捷倫（Agilent）發表一款HDMI TMDS（Transition-Minimized Differential Signaling；最小化傳輸差動信令）信號產生器平台，其可用來測試高達7 Gb/s的HDMI高速裝置。此平台適用於經濟型產品的研發、深入的晶片特性描述、以及授權測試中心的符合性通過/失敗測試 |
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提升半導體測試精確度的模組化圖形系統設計架構 (2007.11.19)
整合越來越多功能的半導體製程，也越來越需要更為嚴謹且精準的驗證測試套件。逐漸邁向工業測試標準的PXI模組化儀器以及圖形化系統設計（Graphical System Design）解決方案，已經帶動起IC測試業界的新風潮，成為半導體各類訊號測試不可或缺且重要的輔助依據 |
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安捷倫與Anite策略聯盟推3GPP LTE測試解決方案 (2007.11.19)
安捷倫科技（Agilent Technologies）與Anite plc宣佈雙方將組成策略聯盟夥伴，為專門設計新一代行動通訊產品的無線通訊研發工程師，提供領先業界的3GPP LTE（Long Term Evolution；長期演進）測試解決方案 |
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安捷倫發表新版ADS先進設計系統2008 EDA軟體 (2007.11.19)
安捷倫科技（Agilent Technologies）發表ADS先進設計系統2008（ADS 2008）軟體，ADS先進設計系統是高頻、高速EDA電子設計自動化軟體平台。新版軟體在工作效率上做了更大的突破，可加快通訊產品的設計速度 |
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NI LabVIEW SignalExpress 2.5提升多種效能 (2007.11.19)
NI最新發表的LabVIEW SignalExpress 2.5，為互動式的量測軟體，可簡化、分析，並呈現來自於數百種資料擷取裝置與儀器的資料。LabVIEW SignalExpress以NI LabVIEW圖形化程式設計為基礎，具有簡單易用的拖曳式環境，適用於設定資料記錄與儀器控制的應用 |
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簡易量測感測器硬體及軟體介面簡化設計 (2007.11.19)
透過Easy Drive ADC架構，量測高阻抗感測器可以變得更簡單，設計師也可擺脫其ADC前端的放大器，而於ADC輸入加入小型分離電容，以作為充電庫。透過單通道及多通道版本、I2C及SPI、16或24位元解析度，完整的Easy Drive ADC系列，將可精確地數位化任何感測器、負載電流或電壓 |
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Tektronix獲頒第7座艾美獎 (2007.11.16)
全球測試、量測及監測儀器廠商Tektronix, Inc.宣佈，美國全國電視藝術科學學會(National Academy of Television Arts and Sciences，NATAS)頒發技術與工程艾美獎給該公司，得獎原因是「ATSC與DVB符合性的即時傳輸串流監測」 |
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英飛凌樹立封裝技術工業新標準基礎 (2007.11.15)
英飛凌科技與半導體封裝暨測試廠日月光半導體（ASE），宣佈雙方將合作導入更高密度封裝尺寸與具幾達無限腳數的半導體封裝技術，這項新封裝規格比傳統封裝技術（導線架壓層板）在尺寸上可縮小30% |
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奧寶科技協助電子組裝業者體驗無瑕疵製程 (2007.11.14)
奧寶科技正式發佈舉辦「零缺點製程體驗」活動，重點介紹該公司研發的全方位瑕疵預防解決方案，將電子組裝業所使用的自動光學檢測(AOI)技術，從傳統單純的瑕疵偵測角色擴展至能夠改善整個生產線品質的高效能工具 |
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轉機就是商機 (2007.11.13)
從來沒有像現在這樣，量測技術對於IC設計而言變得這麼重要，產品設計流程就是一連串的量測過程。所有電子產品都結合了複雜多樣的IC功能，面對現在多核心處理器的千變萬化，能夠「以一擋百」、以系統設計為架構、圖形化介面軟體為平台的量測技術，才能應付高整合難度的IC設計流程 |
