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CTIMES / Aoi;宏瀨;光電
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
「第十八屆全國AOI論壇與展覽」宏瀨光電展先進液晶面板檢測設備 (2018.10.03)
自動光學檢查(Automated Optical Inspection,AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測技術,取代傳統上以人力使用光學儀器進行檢測容易因人員疲累與經驗差異造成檢測品質不佳的缺點,在工業製程中被廣泛使用於檢測階段

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